|
|
|
||
Kinematická a dynamická teorie difrakce rychlých elektronů , dynamická
teorie vzniku kontrastu na poruchách v krystal. Základy vysokorozlišovací
transmisní elektronové mikroskopie (HREM) a difrakce elektronů ve
sbíhavém svazku (CBED). Pro 4., 5. roč. a PGDS. Jedná se jednosemestrální
přednášku, kterou je možné zapsat buď v ZS nebo v LS.
Poslední úprava: ()
|
|
||
[1] B.Smola: Transmisní elektronová mikroskopie ve fyzice pevných látek, skriptum SPN, Praha 1983
[2] L.Reimer: Transmission electron microscopy, Springer-Verlag, Berlin etc. 1984
[3] High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques, editors P. Buseck,J.Cowley,L.Eyring, Oxford Univ. Press, Oxford 1988
[4] M.Tanaka, M.Terauchi: Convergent-beam electron diffraction I, JEOL ltd., 1985 Poslední úprava: Zakouřil Pavel, RNDr., Ph.D. (05.08.2002)
|
|
||
Kvantově mechanické řešení difrakce rychlých elektronů v periodickém potencialu krystalu, Bornova aproximace, přiblížení pro vysokoenergetické elektrony, extinkční hloubka, odchylka od Braggovy polohy, intenzita difraktovaného svazku, meze platnosti kinematické aproximace, difrakce v porušeném krystalu -- [1] kap.2.3 - 2.5, [2].
Dynamická teorie difrakce, Darwinova representace řešení, dvousvazková aproximace, representace Blochových funkcí, fenomenologické řešení normální a anomální absorpce, ekvivalence řešení dvousvazkové aproximace v Darwinově a Blochově reprezentaci, symetrie Blochových funkcí a anomální absorpce, základy mnohasvazkové teorie difrakce elektronů, systematické reflexe -- [1] kap.5, [2].
Maticová formulace dynamické teorie vzniku kontrastu na poruchách kryst. mříže, kontrast na plošných poruchách, vrstevné chyby, antifázová rozhraní, hranice zrn a fázová rozhraní, kontrast na dislokacích, Takagiho rovnice, obraz dislokací v reálných krystalech, kontrast na částicích a precipitátech -- [1] kap.6, [2].
Fázový kontrast, základy teorie přenosu kontrastu v elektronovém mikroskopu, Scherzerův vzorec a ohnisko, simulace přímého zobrazení mříže, metoda multislice, metoda vlastních hodnot a vektorů rozptylové matice -- [2,3].
Difrakce z vybrané plochy a mikrodifrakce elektronů, CBED, úhlová závislost rozložení intenzity v difr. stopách, určení tloušťky vzorku a extinkční hloubky, projevy prvků symetrie a reflexí z vzšších Laueho zon (linie HOLZ) v CBED -- [2,3,4]. Poslední úprava: ()
|