Pokročilé metody zkoumání povrchů - NEVF166

• Anglický název: Advanced Surface Science Analysis
• Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2021
• Semestr: letní
• E-Kredity: 4
• Rozsah, examinace: letní s.:2/1, Z+Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Způsob výuky: prezenční
• Způsob výuky: prezenční
• Garant: prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D.; doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.

Anotace

Poslední úprava: Mgr. Hana Kudrnová (12.01.2018)

Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD), difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED) s rotujícím vzorkem, energetické filtrování RHEED difrakčních obrazců, příprava čistých povrchů a ultra tenkých orientovaných vrstev, teorie a experiment, zpracování získaných dat. Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat.

Literatura

Poslední úprava: Mgr. Hana Kudrnová (12.01.2018)

[1] Ch. Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha 1985.

[2] S. Suga, A. Sekiyama, Photoelectron Spectroscopy, Bulk and Surface Electronic Structure, Springer Series in Optical Sciences 176, Springer 2014

[3] L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990.

[4] S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Principles and Applications, Springer-Verlag 2003

[5] L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha 1996.

[6] W. Braun, Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction during crystal growth, Springer - Verlag, Heidelberg 1999.

[7] Gwo-Ching Wang, Toh-Ming Lu, RHEED Transmission Mode and Pole Figures, Thin Film and Nanostructure Texture Analysis, Springer 2014

Sylabus

Poslední úprava: Mgr. Hana Kudrnová (12.01.2018)

1) Příprava čistých povrchů, čištění monokrystalických povrchů, příprava tenkých orientovaných vrstev

2) Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD): teoretické základy úhlově rozlišených metod, teoretické základy zpracování dat, experimentální vybavení, praktická cvičení v laboratoři, měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na fotoelektronové spektroskopii.

3) Elektronová difrakce RHEED, teoretické základy vyhodnocení difrakčních obrazců, mapování reciprokého prostoru metodou rotujícího vzorku, jevy neelastického rozptylu elektronů v difrakčních obrazcích, Kikuchiho linie, energetické filtrování RHEED difrakčních obrazců. Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na elektronové difrakci RHEED. Charakterizace nanostruktur pomocí difrakce elektronů.