Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (05.03.2019)
Úvod do mikroskopických a rozptylových metod. Výuka kombinuje přednášky shrnující jak teoretické základy daných metod tak jejich instrumentaci s praktickými cvičeními.
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (08.02.2022)
Introduction to microscopic and scattering methods. The course combines lectures comprising both theoretical principles of the methods and their instrumentation with practical courses.
Literatura
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (05.03.2019)
Egerton, R.F. Physical Principles of Electron Microscopy, Springer Verlag 2007
Meyer, E., Hug, H.J., Bennewitz, R. Scanning Probe Microscopy, Spinger Verlag 2004
Zemb, T., Lindner, P. (Eds.) Neutrons, X-rays and Light. Scattering Methods Applied to Soft Condensed Matter, North Holland 2002
Požadavky ke zkoušce -
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (15.02.2021)
Forma zkoušky: ústní v rozsahu přednášené látky. Zkouška se koná prezenční formou.
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (04.02.2022)
Oral exam
Sylabus -
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (04.02.2022)
1. Elektronová mikroskopie
Základní principy zobrazování elektronovou mikroskopií, zvětšení, bodové rozlišení, kontrast, chromatická a sférická aberace. Transmisní a skenovací elektronová mikroskopie, detekce v SEM/STEM metodách, interakce elektronů se vzorkem, metody EDS a EELS. Příprava vzorků, kryogenní transmisní elektronová mikroskopie
2. Mikroskopie skenující sondou
Základní principy zobrazování SPM, mikroskopie atomárních sil v kontaktním, semikontaktním a nekontakním módu, skenovací tunelová mikroskopie
3. Rozptylové metody
Úvod do teorie rozptylu, rozpylový vektor, rozptylová délka a rozptylový průřez, tvarový a strukturní faktor. Analýza rozptylových křivek. Dynamický rozptyl světla, autokorelační funkce intenzity, translační a rotační difúzní koeficient z DLS. Měření rozptylu světla, rentgenového záření a neutronů - zdroje záření, detektory, kalibrace.
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (04.02.2022)
1. Electron microscopy
Basic principles of electron microscopy imaging, magnification, point resolution, contrast, chromatic and spherical aberration. Transmission and scanning electron microscopy, detection in SEM/STEM methods, interaction of electrons with the sample, EDS and EELS techniques. Sample preparation, cryogenic transmission electron microscopy
2. Scanning probe microscopy
Basic principles of SPM imaging, atomic force microscopy in contact, semicontact and noncontact mode, scanning tunelling microscopy
3. Scattering methods
Introduction to scattering theory, scattering vector, scattering length and scattering cross-section, form factor and structure factor. Analysis of scattering curves. Dynamic light scattering, intensity autocorrelation function, translational and rotational diffusion coefficient from DLS. Ligh, X-ray and neutron scattering measurements - radiation sources, detection and calibration.