PředmětyPředměty(verze: 837)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Praktické užití mikroskopie atomárních sil (AFM) - NFPL500
Anglický název: Practical application of atomic force microscopy
Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2013
Semestr: letní
E-Kredity: 2
Rozsah, examinace: letní s.:0/2 Z [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D.
doc. Ing. Andrey Shukurov, Ph.D.
Anotace -
Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)
Praktické úlohy mikroskopie atomárních sil (AFM) a odvozených technik. Základních principy funkce AFM mikroskopů. Studium širokého spektra materiálů a jejich fyzikálních vlastností: vodivostní AFM, studium magnetickýcyh domén (MFM), adhezních vlastností, apod. Diskuze zvolené metody a výběr hrotů pro daný problém. V hodné pro studenty magisterského studia většiny experimentálních oborů.
Sylabus -
Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)

1. Seznámení se základními principy a konstrukcí AFM.

2. Kontaktní vs. semi-kontaktní (tapping) mód, porovnání obou metod, diskuse výhod a nevýhod.

3. Elektrické vlastnosti materiálů: vodivostní AFM, elektrostatické síly (EFM), Kelvinova sonda (KPFM)

4. Studium magnetických domén permalloye (MFM)

5. Studium buněčných organismů

6. Studium počátečních stádií růstu nanostrukturovaných polymerních vrstev

7. Hrubost a struktuktura krystalických zrn

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK