Praktické užití mikroskopie atomárních sil (AFM) - NFPL500

• Anglický název: Practical application of atomic force microscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2013
• Semestr: letní
• E-Kredity: 2
• Rozsah, examinace: letní s.:0/2, Z [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Garant: RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D.; prof. Ing. Andrey Shukurov, Ph.D.
• Vyučující: Mgr. Anna Fučíková, Ph.D.; doc. RNDr. Peter Minárik, Ph.D.; RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D.

Anotace

čeština

Praktické úlohy mikroskopie atomárních sil (AFM) a odvozených technik. Základních principy funkce AFM mikroskopů. Studium širokého spektra materiálů a jejich fyzikálních vlastností: vodivostní AFM, studium magnetickýcyh domén (MFM), adhezních vlastností, apod. Diskuze zvolené metody a výběr hrotů pro daný problém. V hodné pro studenty magisterského studia většiny experimentálních oborů.

Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)

angličtina

Exercises on atomic force microscopy (AFM) and related techniques. Tha basic priciples and functions of AFM. Wide range materials studies, and studies of various physical properites: conductance c-AFM, magnetic force microscopy (MFM, domain structure), adhesion properties etc. Choice of proper methods and probes for given experiment. Suitable for most of Msc students of experimental physics.

Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)

Podmínky zakončení předmětu

čeština

Podmínkou získání zápočtu je účast na pěti vybraných praktických úlohách a dále příprava a odprezentování kvalitní prezentace z vybrané absolvované úlohy. Prezentace se konají na konci semestru před ostatními účastníky kurzu a vyučujícími.

Poslední úprava: Uhlířová Klára, RNDr., Ph.D. (13.06.2019)

angličtina

For the course completion, five selected practical exercises have to be attended. One of the exercises will be presented (a good presentation) to the audience of the course's participants (and teachers) at the end of the semester.

Poslední úprava: Mikšová Kateřina, Mgr. (13.05.2022)

Sylabus

čeština

1. Seznámení se základními principy a konstrukcí AFM.

2. Kontaktní vs. semi-kontaktní (tapping) mód, porovnání obou metod, diskuse výhod a nevýhod.

3. Elektrické vlastnosti materiálů: vodivostní AFM, elektrostatické síly (EFM), Kelvinova sonda (KPFM)

4. Studium magnetických domén permalloye (MFM)

5. Studium buněčných organismů

6. Studium počátečních stádií růstu nanostrukturovaných polymerních vrstev

7. Hrubost a struktuktura krystalických zrn

Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)

angličtina

1. Introduction to AFM and construction of the microscopes

2. Kontakt mode AFM, semi-contact (tapping) mode AFM, comparison of the techniques

3. Electric techniques: conducting AFM, electric force microscopu (EFM), Klelvinprobe force microscopu (KPFM)

4. Studies of magnetic domain structure in premalloys

5. Cell observation

6. Growth of nanostructure polymer films

7. Roughness and structure of crystals grains

Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)