Praktická transmisní elektronová mikroskopie I - NFPL310
|
|
|
||
Praktická výuka práce na TEM (JEOL 2000FX, později také 2200FS): Ovládání a centrování mikroskopu - clony, deflektory, stigmátory. Příprava vzorků - Tenupol. Techniky pozorování ve světlém poli, tmavém poli a slabém svazku. Difrakce (Selected area a micro/nano difrakce). Tloušťkové a ohybové kontury, precipitáty, dislokace.
Poslední úprava: Veselý Jozef, Mgr., Ph.D. (06.06.2022)
|