Praktické užití skenovací elektronové mikroskopie - NFPL307

• Anglický název: Practical Applications of Scanning Electron Microscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky materiálů (32-KFM)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2014
• Semestr: oba
• E-Kredity: 4
• Rozsah, examinace: 0/3, Z [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Způsob výuky: prezenční
• Způsob výuky: prezenční
• Poznámka: předmět lze zapsat opakovaně; předmět lze zapsat v ZS i LS
• Garant: RNDr. Petr Harcuba, Ph.D.; RNDr. Jitka Stráská, Ph.D.
• Vyučující: RNDr. Petr Harcuba, Ph.D.; doc. RNDr. Peter Minárik, Ph.D.; RNDr. Jitka Stráská, Ph.D.

Anotace

čeština

Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii. Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování. Základy ovládání elektronového mikroskopu. Zobrazování pomocí sekundárních elektronů. Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů. Chemická analýza pomocí EDX a WDX. Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD. Další pokročilé techniky.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (23.04.2014)

angličtina

Sample preparation for electron microscopy . Basic principles and controlling of scanning electron microscope. Imaging using secondary and back-scattered electrons. Chemical analysis by means of EDX and WDX. Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (29.04.2016)

Podmínky zakončení předmětu

Zápočet je udělován na základě aktivní účasti na cvičení (výuce na skenovacím elektronovém mikroskopu na Katedře fyziky materiálů).

Poslední úprava: Stráská Jitka, RNDr., Ph.D. (14.06.2019)

Literatura

Joseph Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (23.04.2014)

Sylabus

čeština

Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii.

Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování.

Základy ovládání elektronového mikroskopu.

Zobrazování pomocí sekundárních elektronů.

Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů.

Chemická analýza pomocí EDX a WDX.

Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD.

Další pokročilé techniky.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (29.04.2016)

angličtina

Sample preparation for electron microscopy .

Basic principles and controlling of scanning electron microscope.

Imaging using secondary and back-scattered electrons.

Chemical analysis by means of EDX and WDX.

Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (29.04.2016)