Praktické užití skenovací elektronové mikroskopie - NFPL307

• Anglický název: Practical Applications of Scanning Electron Microscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky materiálů (32-KFM)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2014
• Semestr: oba
• E-Kredity: 4
• Rozsah, examinace: 0/3, Z [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Způsob výuky: prezenční
• Způsob výuky: prezenční
• Poznámka: předmět lze zapsat opakovaně; předmět lze zapsat v ZS i LS
• Garant: RNDr. Petr Harcuba, Ph.D.; RNDr. Jitka Stráská, Ph.D.

Anotace

čeština

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)

Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii. Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování. Základy ovládání elektronového mikroskopu. Zobrazování pomocí sekundárních elektronů. Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů. Chemická analýza pomocí EDX a WDX. Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD. Další pokročilé techniky.

angličtina

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)

Sample preparation for electron microscopy . Basic principles and controlling of scanning electron microscope. Imaging using secondary and back-scattered electrons. Chemical analysis by means of EDX and WDX. Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.

Podmínky zakončení předmětu

Poslední úprava: RNDr. Jitka Stráská, Ph.D. (14.06.2019)

Zápočet je udělován na základě aktivní účasti na cvičení (výuce na skenovacím elektronovém mikroskopu na Katedře fyziky materiálů).

Literatura

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)

Joseph Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003.

Sylabus

čeština

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)

Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii.

Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování.

Základy ovládání elektronového mikroskopu.

Zobrazování pomocí sekundárních elektronů.

Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů.

Chemická analýza pomocí EDX a WDX.

Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD.

Další pokročilé techniky.

angličtina

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)

Sample preparation for electron microscopy .

Basic principles and controlling of scanning electron microscope.

Imaging using secondary and back-scattered electrons.

Chemical analysis by means of EDX and WDX.

Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.