PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Rentgenografické studium reálné struktury tenkých vrstev - NFPL149
Anglický název: X-ray Study of Real Structure of Thin Films
Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2017 do 2019
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: angličtina
Způsob výuky: prezenční
Další informace: http://htp://krystal.karlov.mff.cuni.cz/FPL149
Garant: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Anotace -
Poslední úprava: T_KFES (23.05.2003)
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur. Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium reálné struktury tenkých vrstev.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Literatura -
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (14.05.2019)

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Sylabus -
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a

morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.

Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro

studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium

reálné struktury tenkých vrstev.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK