Seminář analytických metod v elektronové mikroskopii - NFPL054

• Anglický název: Seminar on Analytical Methods in Electron Microscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky materiálů (32-KFM)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2022
• Semestr: oba
• E-Kredity: 6
• Rozsah, examinace: 0/4, Z [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: nevyučován
• Jazyk výuky: angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Poznámka: předmět lze zapsat v ZS i LS
• Garant: Mgr. Jozef Veselý, Ph.D.; RNDr. Michaela Šlapáková, Ph.D.
• Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek
• Korekvizity : NOFY125

Anotace

čeština

Analýza jemné struktury difraktogramů, fázová analýza, analýza typu poruch mříže, analýza složení, určení tloušťky vzorku, základy zpracování a simulace obrazu, použití mikrodifrakce a difrakce ve sbíhavém svazku. Pro 1., 2.r. nmgr FKSM a PGDS.

Poslední úprava: Pešička Josef, doc. RNDr., CSc. (02.05.2019)

angličtina

Analysis of fine structure of diffraction patterns, phase analysis, analysis of various kinds of lattice imperfections, analysis of composition, determination of foil thickness, fundamental principles of image simulation and processing, employment of microdiffraction, weak beam and convergent beam electron diffraction techniques. For undergraduate students of grade 4 and 5 and graduate students.

Poslední úprava: T_KFK (17.04.2002)

Podmínky zakončení předmětu

čeština

Předmět je ukončen zápočtem.

Zápočet bude udělen za účast na cvičeních a úspěšné absolvování jednoho až dvou testů konaných v průběhu cvičení.

Poslední úprava: Janeček Miloš, prof. RNDr., CSc. (08.06.2019)

angličtina

The subject is termianted by the credit.

The credit is issued for the active participation at the seminar/tutorial and sucesfull passion of one or two written tests during the seminars.

Poslední úprava: Janeček Miloš, prof. RNDr., CSc. (08.06.2019)

Literatura

1. B. Smola: Transmisní elektronová mikroskopie. Skripta MFF UK, Státní pedagogické nakladatelství, Praha 1983.

2. L. Reimer: Transmission Electrom Microscopy. Springer Verlag, Berlín 1993.

3. J.W. Edington: Practical Electron Microscopy in Materials Science. ed. N.v. Philips Gloeilampenfabrieken, Eindhoven 1976.

4. I.M. Watt: The Principle and Practice of Electron Microscopy. Cambridge University Press, London 1985.

5. F. Jandoš, R. Říman, A. Gemperle: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. Nakladatelství technické literatury, Praha 1985.

6. Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 1996.

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)

Sylabus

čeština

Analýza jemné struktury difraktogramů, fázová analýza, analýza typu

poruch mříže, analýza složení, určení tloušťky vzorku, základy zpracování

a simulace obrazu, použití mikrodifrakce a difrakce ve sbíhavém svazku.

Pro 4., 5. roč. a PGDS.

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)

angličtina

Analysis of fine structure of diffraction patterns, phase analysis, analysis of various kinds of lattice imperfections, analysis of composition, determination of foil thickness, fundamental principles of image simulation and processing, employment of microdiffraction, weak beam and convergent beam electron diffraction techniques.

For undergraduate students of grade 4 and 5 and graduate students.

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)