PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Rtg metody studia struktury a mikrostruktury materiálů - NFPL030
Anglický název: X-ray methods for structure and microstructure investigation of materials
Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2015
Semestr: letní
E-Kredity: 5
Rozsah, examinace: letní s.:2/1 Z+Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Další informace: http://krystal.karlov.mff.cuni.cz/FPL030
Poznámka: předmět je možno zapsat mimo plán
povolen pro zápis po webu
Garant: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D.
Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek
Anotace -
Poslední úprava: T_KFES (18.04.2014)
Zdroje rtg záření, monochromatizace, detekce. Základní monokrystalové a práškové metody. Různé difrakční geometrie. Zpracování práškového difraktogramu. Instrumentální korekce. Identifikace neznámé fáze. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza. Přesné měření mřížových parametrů. Rietveldova metoda. Základní metody měření zbytkových napětí a textur. Studium profilů difrakčních linií. Základní metody řešení krystalových struktur. Studium struktury amorfních materiálů. Párová distribuční funkce. Maloúhlový rozptyl. Reflektivita. Moderní rtg zobrazovací metody
Literatura
Poslední úprava: RNDr. Pavel Zakouřil, Ph.D. (05.08.2002)

V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč : Základy strukturní analýzy. Karolinum. Praha. 1992.

I. Kraus : Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

I. Kraus., V.V. Trofimov : Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. Quantitative Texture Analysis. ed. H.J. Bunge, C. Esling. DGM. Oberursel. 1982.

Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel.

Difrakcia na polykryštalických látkach.R & D. Print. Bratislava. 1994. red. L. Smrčok.

dále vybrané články z časopisů.

Sylabus -
Poslední úprava: T_KFES (26.05.2003)

1. Zdroje záření Klasické zdroje, rotační anody, synchrotronové záření, zdroje neutronů

2. Monochromatizace Filtry, typy monochromátorů

3. Detekce záření Filmy, bodové, lineární, plošné detektory

4. Monokrystalové metody Filmové metody - Laue (orientace krystalu), Weissenberg, otáčený krystal, precese Difraktometry - Eulerova kolébka, kappa geometrie

5. Filmové práškové metody - Debye-Scherrerova metoda, Guinier

6. Informace obsažená v konvenčním práškovém difraktogramu. Stručný přehled základních metod práškové difrakce - upřesňování struktury z prášků, kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, studium mřížových parametrů, teplotních kmitů, velikostí částic, mikronapětí.

7. Zpracování práškového difraktogramu. Určení parametrů profilů difrakčních linií přímou metodou a pomocí aproximace analytickými funkcemi.

8. Přehled základních geometrií v rtg. difraktometrii. Konvenční prášková metoda, goniometry psi, omega, Seemannův- Bohlinův goniometr, vliv instrumentálních faktorů a absorpce. Hloubka průniku rtg. záření.

9. Identifikace neznámé fáze

10. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza

11. Určování mřížových parametrů

12. Rietveldova metoda zpřesňování struktur

13. Měření zbytkových napětí Klasifikace napětí, popis napětí, metoda sin^2 psi, měření dvojosých napětí filmovými a difraktometrickými metodami

14. Textury. ODF, měření textury na texturním goniometru, vláknité textury a jejich charakterizace pomocí konvenčního práškového difraktometru, jednoduché metody popisu textur (psi a omega skeny)

15. Studium profilů difrakčních linií. Korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic aproximačními metodami.

16. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů v oboru 5 nm - 10000 nm.

17. Studium struktury amorfních materiálů. Difrakce a EXAFS

18. Základní metody řešení krystalových struktur Pattersonovské metody, přímé metody

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK