PředmětyPředměty(verze: 901)
Předmět, akademický rok 2021/2022
  
Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev I - NEVF515
Anglický název: Methods of Physics of Surfaces and Thin Films I
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2020
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Virtuální mobilita / počet míst: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština, angličtina
Způsob výuky: prezenční
Další informace: https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html
Garant: doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Třída: DS, fyzika povrchů a rozhraní
Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika povrchů a ionisovaných prostředí
Anotace -
Poslední úprava: T_KEVF (09.05.2011)
V rámci přednášky bude posluchačům představeno spektrum experimentálních metod fyziky povrchů na příkladech aktuálních problémů řešených v současné fyzice povrchů. Přednáška je zaměřena na metody integrální a metody pracující v dalekém poli, které umožňují analýzu povrchů a tenkých vrstev v oblastech morfologie, krystalové struktury, elektronové struktury, chemického stavu a chemické reaktivity.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.06.2019)

Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky.

Literatura
Poslední úprava: T_KEVF (24.05.2007)

Stefan Hufner: Photoelectron Spectroscopy, Principles and Aplications, Springer Verlag, 2006

Andrew Zangwill: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, Cambridge 1992

Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.06.2019)

Zkouška je ústní a student dostává otázky dle sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednáškách.

Sylabus -
Poslední úprava: T_KEVF (09.05.2011)

Elektronově optické mikroskopie - Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), mikroskopie pomalých elektronů (LEEM), mikroskopie fotoelektronů (PEEM). Difrakce - pomalých elektronů (LEED), analýza energetických křivek (IV-LEED), analýza profilu stop (SPA-LEED), rychlých elektronů (RHEED), fotoelektronů (XPD), rentgenová (XRD, XSW). Spektroskopie ztráty energie elektronů (EELS), infračervené spektroskopie (RAIRS, SERS). Fotoelektronová spektroskopie - buzená rentgenovými paprsky (XPS), vysoce energetickými rentgenovými paprsky (HXPS), synchrotroonovým zářením (SRPES), ultrafialovými paprsky (UPS), úhlově rozlišená (ARPES), spinově polarizovaná (SP-XPS), inverzní (IPS).

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK