PředmětyPředměty(verze: 849)
Předmět, akademický rok 2019/2020
   Přihlásit přes CAS
Molekulová a iontová spektroskopie - NEVF148
Anglický název: Molecular and Ion Spectroscopy
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2017 do 2019
Semestr: zimní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: zimní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: doc. RNDr. Jan Wild, CSc.
Anotace -
Poslední úprava: T_KEVF (21.03.2003)
Výměna náboje mezi ionty a povrchem, spektroskopie založené na principu neutralizace dopadajících iontů (INS) a rozptylu iontů (ISS). Iontové odprašování, hloubkové profily. Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS). Rozptyl neutrálních částic na povrchu PL. Elektronově stimulovaná desorpce.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.06.2019)

Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky, tj. hodnocení zkoušky známkou "výborně", "velmi dobře" nebo "dobře". Zkouška musí být složena v období předepsaném harmonogramem akademického roku, ve kterém student předmět zapsal.

Literatura
Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)

D.P. Woodruff, T.A. Delchar: Modern Techniques of Surface Science, University Press, Cambridge, Great Britain, 1986 .

L. Frank, J. Král (editors): Metody analýzy povrchů III: Iontové, sondové a speciální metody, ACADEMIA, Praha 2002.

Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (18.10.2017)

Zkouška probíhá ústně, otázky pokrývají sylabus v předneseném rozsahu.

Sylabus -
Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)
1. Metody založené na dopadu iontů

2. Výměna náboje mezi ionty a povrchem.
Spektroskopie založené na principu neutralizace dopadajících iontů (INS). Neutralizace Augerovým přechodem, de-excitace, experimentální uspořádání.

3. Iontový rozptyl (ISS)
Strukturní jevy, instrumentace.

4. Iontové odprašování, hloubkové profily
Kolizní kaskáda, odprašovací výtěžek, hloubkové rozlišení.

5. Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS)
Iontový výtěžek, energetické rozdělení SI, detekční limit, statický SIMS, kvantifikace, instrumentace.

6. Elektronově stimulovaná desorpce (ESD).
Základní principy, instrumentace, metoda TOF-ESD úhlově rozlišená elektronově stimulovaná desorpce iontů (ESDIAD).

7. Rozptyl svazků atomů a molekul.
Interakce svazku s povrchem, pružný a nepružný rozptyl, instrumentace.

8. Další metody založené na iontové spektroskopii

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK