PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Moderní trendy ve fyzice povrchů - NEVF108
Anglický název: Modern Trends in Surface Physics
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2018 do 2019
Semestr: zimní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: zimní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr.
doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
Anotace -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)
Pokročilé metody zkoumání povrchů. Fotoelektronová spektroskopie (FS): kvantitativní analýza, rezonanční FS, satelity v konečném stavu, studium pásové struktury krystalů metodou FS, XAS-NEXAFS-EXAFS, HAXPES, úhlově rozlišená FS, fotoelektronová difrakce (XPD). Elektronová difrakce: dynamická teorie - difrakce nízkoenergetických elektronů (LEED) a difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED).
Literatura -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)

1. Zangwill A.: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, 1992

2. D. Briggs and M.P. Seah, Practical Surface Analysis (Volume 1), Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, Wiley 1996

3. S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Principles and Applications, Springer-Verlag 2003

4. Lüth, H.: Solid surfaces, Interfaces and thin films, Springer, Berlin, 2001

5. S. Suga, A. Sekiyama, Photoelectron Spectroscopy, Bulk and Surface Electronic Structure, Springer Series in Optical Sciences 176, Springer 2014

6. M.A. van Hove, W.H. Weinberg, C.M. Chan: Low-Energy Electron Diffraction, Springer-Verlag, Berlin 1986

Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr. (09.10.2017)

Zkouška je ústní. Požadavky ke zkoušce odpovídají sylabu přednášky v rozsahu, který byl prezentován v průběhu přednášky.

Sylabus -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)

1) Kvantitativní analýza chemického složení metodou fotoelektronové spektroskopie (FS), FS valenčního pásu krystalů, vlnový vektor počátečního a konečného stavu, model volných elektronů v konečném stavu, studium pásové struktury při normálové emisi a proměnné energii fotonů, fotoelektronová spektroskopie s využitím synchrotronového záření. Studium valenčního pásu metodou úhlově rozlišené FS, ARUPS. Studium lokální struktury povrchů metodou difrakce fotoelektronů, úhlově rozlišená FS vnitřních hladin. Pásová struktura dvoudimenzionálních krystalů. Určování ploch konstantní energie, Fermiho plochy. Spinově rozlišená FS, majoritní a minoritní pásy. Inverzní FS. Excitace satelitů v konečném stavu. Resonanční FS. Absorpční rentgenová spektroskopie (XAS), NEXAFS-XANES, EXAFS. FS buzená tvrdým zářením - HAXPES.

2) Meze platnosti kinematické teorie difrakce, dynamická teorie difrakce elektronů na povrchu pevné látky, užití dynamické teorie metodami LEED a RHEED.

3) Aplikace spektroskopických a elektronově difrakčních metod.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK