PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Řádkovací mikroskopie - STM, AFM - NEVF106
Anglický název: Scanning Microscopy - STM, AFM
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2015 do 2019
Semestr: zimní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: zimní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.
doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.
Anotace -
Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)
Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších odvozených technik. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií (TEM, SEM), mikroskopy FEM, FIM a LEEM. Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc. (12.10.2017)

Zkouška je ústní, tři otázky vycházejí ze sylabu přednášky a požadované znalosti odpovídají odpřednášenému rozsahu.

Literatura
Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)

Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995.

Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992.

Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford Univ. Press, Oxford 1993

Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.

Sylabus -
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)
1. Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších technik
Fyzikální principy mikroskopií v blízkém poli: rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), optické rastrovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Techniky odvozené od STM: spektroskopie tunelujících elektronů - STS, mikroskopie balisticky emitovaných elektronů - BEES, rastrovací tunelová potenciometre a šumová mikroskopie, kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. Modifikace techniky AFM - rastrovací silové mikroskopie (SFM): mikroskopie magnetických (MFM) a elektrostatických sil (EFM), techniky stejnosměrné a střídavé, kontaktní, semi-kontaktní a nekontaktní, jedno- a víceprůchodové.

2. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení
Rozlišovací schopnost, mody měření, otázky konstrukce a provozu rastrovacích mikroskopů v blízkém poli, využití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev.

3. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií
Srovnání s dalšími technikami - transmisní elektronová mikroskopie (TEM), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), autoemisní mikroskop (FEM), iontový projektor (FIM) a mikroskopie pomalými elektrony (LEEM). Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik při studiu povrchů a tenkých vrstev.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK