PředmětyPředměty(verze: 953)
Předmět, akademický rok 2023/2024
   Přihlásit přes CAS
Metody fyziky povrchů pro moderní technologie - NAFY070
Anglický název: Methods of surface science for advanced technology
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2020
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0, Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Způsob výuky: prezenční
Poznámka: povolen pro zápis po webu
Garant: doc. RNDr. Václav Nehasil, Dr.
doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D.
Anotace -
Přednáška se zabývá specifickými vlastnostmi povrchů a metodami přípravy povrchů pro moderní technologie, přípravou spojitých a nespojitých deponovaných vrstev s charakteristickými rozměry řádu nanometrů. V přednášce se seznámíme s nejdůležitějšími experimentálními metodami výzkumu a charakteristiky čistých povrchů, ultra tenkých vrstev a nanostruktur (elektronová struktura, krystalografická struktura, morfologie, chemický stav).
Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (18.05.2020)
Podmínky zakončení předmětu -

Předmět je zakončen ústní zkouškou.

Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (15.05.2020)
Literatura -

1. Zangwill A.: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, 1992

2. Lüth, H.: Solid surfaces, Interfaces and thin films, Springer, Berlin, 2010 Metody analýzy povrchů - Elektronové spektroskopie , editor L. Eckertová, Academia, 1990

3. Metody analýzy povrchů - Iontové, sondové aspeciální metody , editoři L. Frank, J. Král, Academia, 2002

4. Practical Surface Analysis, by Auger and Photoelectron Spectroscopy, ed. D. Briggs and M.P.Seah, Wiley, 1983

5. Practical Surface Analysis, second edition, Volume 2, Ion and Neutral Spectroscopy, ed. D. Briggs and M.P.Seah, Wiley, 1992

6. L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha 1996.

7. W. Braun, Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction during crystal growth, Springer - Verlag, Heidelberg 1999.

Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (15.05.2020)
Požadavky ke zkoušce -

Zkouška z tohoto předmětu je ústní. Požadavky ke zkoušce odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.

Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (15.05.2020)
Sylabus -

1. Ideální a reálný povrch pevné látky. Krystalická struktura, čistota, získávání atomárně čistých povrchů, adsorpce, desorpce, elektronová struktura povrchů, typy vazeb, elektronegativita, princip metod zkoumání povrchů.

2. Výstupní práce. Teorie, závislost na druhu látky a vnějších vlivech, měření a praktický význam výstupní práce.

3. Morfologie povrchů: elektronová mikroskopie SEM, TEM, rastrovací

tunelová mikroskopie STM, mikroskopie atomárních sil AFM.

4. Příprava definovaných povrchů a tenkých vrstev s charakteristickými rozměry řádu nanometrů.

5. Struktura povrchů a jejich chemický stav: metody elektronových a iontových spektroskopií. Fyzikální principy metod a příklady jejich použití. Základy fotoelektronové spektroskopie – využití rentgenového a synchrotronového záření. Interakce iontů s povrchem, iontové spektroskopie ISS a SIMS.

6. Krystalografická struktura povrchů: metody elektronové difrakce (LEED a RHEED), difrakce fotoelektronů, aplikace.

Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (15.05.2020)
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK