Praktické úlohy mikroskopie atomárních sil (AFM) a odvozených technik. Základních principy funkce AFM
mikroskopů. Studium širokého spektra materiálů a jejich fyzikálních vlastností: vodivostní AFM, studium
magnetickýcyh domén (MFM), adhezních vlastností, apod. Diskuze zvolené metody a výběr hrotů pro daný
problém. V hodné pro studenty magisterského studia většiny experimentálních oborů.
Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)
Exercises on atomic force microscopy (AFM) and related techniques. Tha basic priciples and functions of AFM.
Wide range materials studies, and studies of various physical properites: conductance c-AFM, magnetic force
microscopy (MFM, domain structure), adhesion properties etc. Choice of proper methods and probes for given
experiment.
Suitable for most of Msc students of experimental physics.
Sylabus -
Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)
1. Seznámení se základními principy a konstrukcí AFM.
2. Kontaktní vs. semi-kontaktní (tapping) mód, porovnání obou metod, diskuse výhod a nevýhod.
3. Elektrické vlastnosti materiálů: vodivostní AFM, elektrostatické síly (EFM), Kelvinova sonda (KPFM)
4. Studium magnetických domén permalloye (MFM)
5. Studium buněčných organismů
6. Studium počátečních stádií růstu nanostrukturovaných polymerních vrstev
7. Hrubost a struktuktura krystalických zrn
Poslední úprava: T_KFES (15.05.2013)
1. Introduction to AFM and construction of the microscopes
2. Kontakt mode AFM, semi-contact (tapping) mode AFM, comparison of the techniques
3. Electric techniques: conducting AFM, electric force microscopu (EFM), Klelvinprobe force microscopu (KPFM)
4. Studies of magnetic domain structure in premalloys