PředmětyPředměty(verze: 945)
Předmět, akademický rok 2016/2017
   Přihlásit přes CAS
Rentgenografické studium reálné struktury tenkých vrstev - NFPL149
Anglický název: X-ray Study of Real Structure of Thin Films
Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2005 do 2016
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0, Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Způsob výuky: prezenční
Další informace: http://htp://krystal.karlov.mff.cuni.cz/FPL149
Garant: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Výsledky anket   Termíny zkoušek   Rozvrh   Nástěnka   
Anotace -
Poslední úprava: T_KFES (23.05.2003)
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur. Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium reálné struktury tenkých vrstev.
Sylabus -
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a

morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.

Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro

studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium

reálné struktury tenkých vrstev.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK