Seminář analytických metod v elektronové mikroskopii - NFPL054

• Anglický název: Seminar on Analytical Methods in Electron Microscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky materiálů (32-KFM)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2015 do 2015
• Semestr: oba
• E-Kredity: 6
• Rozsah, examinace: 0/4, Z [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Způsob výuky: prezenční
• Poznámka: předmět lze zapsat v ZS i LS
• Garant: prof. RNDr. Miloš Janeček, CSc.; doc. RNDr. Bohumil Smola, CSc.
• Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek

Anotace

čeština

Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (14.05.2019)

Analýza jemné struktury difraktogramů, fázová analýza, analýza typu poruch mříže, analýza složení, určení tloušťky vzorku, základy zpracování a simulace obrazu, použití mikrodifrakce a difrakce ve sbíhavém svazku. Pro 4., 5. roč. a PGDS.

angličtina

Poslední úprava: T_KFK (17.04.2002)

Analysis of fine structure of diffraction patterns, phase analysis, analysis of various kinds of lattice imperfections, analysis of composition, determination of foil thickness, fundamental principles of image simulation and processing, employment of microdiffraction, weak beam and convergent beam electron diffraction techniques. For undergraduate students of grade 4 and 5 and graduate students.

Literatura

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)

1. B. Smola: Transmisní elektronová mikroskopie. Skripta MFF UK, Státní pedagogické nakladatelství, Praha 1983.

2. L. Reimer: Transmission Electrom Microscopy. Springer Verlag, Berlín 1993.

3. J.W. Edington: Practical Electron Microscopy in Materials Science. ed. N.v. Philips Gloeilampenfabrieken, Eindhoven 1976.

4. I.M. Watt: The Principle and Practice of Electron Microscopy. Cambridge University Press, London 1985.

5. F. Jandoš, R. Říman, A. Gemperle: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. Nakladatelství technické literatury, Praha 1985.

6. Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 1996.

Sylabus

čeština

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)

Analýza jemné struktury difraktogramů, fázová analýza, analýza typu

poruch mříže, analýza složení, určení tloušťky vzorku, základy zpracování

a simulace obrazu, použití mikrodifrakce a difrakce ve sbíhavém svazku.

Pro 4., 5. roč. a PGDS.

angličtina

Poslední úprava: T_KFK (17.03.2004)

Analysis of fine structure of diffraction patterns, phase analysis, analysis of various kinds of lattice imperfections, analysis of composition, determination of foil thickness, fundamental principles of image simulation and processing, employment of microdiffraction, weak beam and convergent beam electron diffraction techniques.

For undergraduate students of grade 4 and 5 and graduate students.