Poslední úprava: RNDr. Roman Skála, Ph.D. (23.02.2021)
Kurz se věnuje popisu metod používaných k získání a zpracování difrakčních dat v mineralogii. Ukáže možnosti i omezení
vybraných metod. Rovněž se zabývá vlivem reálné struktury na difrakční obraz.
Z důvodu pandemické situace kurz v letním semestru akademického roku 2020/2021 probíhá kombinovaně online formou a samostudiem vybrané poskytnuté literatury. Informace k připojení jsou zapsaným studentům zasílány pravidelně prostřednictvím SIS.
Poslední úprava: RNDr. Roman Skála, Ph.D. (23.02.2021)
The course describes diffraction methods and the procedures for their processing as used in mineralogy. The possibilities and limitations of certain experimental techniques are explained. Also, real structure influence on the diffraction patterns is addressed.
Due to the pandemic situation, the course in the summer semester of the academic year 2020/2021 takes place in a combined online form and self-study of provided selected literature. Information on how to connect to an online lecture will be provided to enrolled students via e-mail.
Literatura -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Zachariáš, Ph.D. (26.10.2011)
Giacovazzo C., editor (2000) Fundamentals of Crystallography, 2nd edition, IUCr Oxford University Press.
Smrčok L. (1994) Difrakcia na polykryštalických látkach. R&D Print, Bratislava.
Snyder R., Fiala J., and Bunge H.J., editors (2000) Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.
Young R.A., editor (1995) The Rietveld Method. Oxford University Press.
Studentům budou dány k dispozici texty přednášek formou PDF souborů.
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Zachariáš, Ph.D. (26.10.2011)
Giacovazzo C., editor (2000) Fundamentals of Crystallography, 2nd edition, IUCr Oxford University Press.
Smrčok L. (1994) Difrakcia na polykryštalických látkach. R&D Print, Bratislava.
Snyder R., Fiala J., and Bunge H.J., editors (2000) Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.
Young R.A., editor (1995) The Rietveld Method. Oxford University Press.
Požadavky ke zkoušce -
Poslední úprava: RNDr. Roman Skála, Ph.D. (01.06.2012)
Zápočet:
Aktivní účast na výuce, protokoly z cvičení.
Zkouška:
Znalosti v rozsahu látky přednášek a cvičení a výběru ze studijní literatury. Zkouška probíhá písemnou formou.
Poslední úprava: RNDr. Roman Skála, Ph.D. (23.02.2021)
An essay on a given topic reflecting aspects discussed during the course.
Sylabus -
Poslední úprava: RNDr. Roman Skála, Ph.D. (01.06.2012)
Světlo a jeho difrakce na dvojrozměrných vzorcích. Difrakce elektronů, neutronů a rentgenového záření na 3D periodických strukturách. Fourierovy transformace.
Difrakce od polykrystalů a monokrystalů. Ewaldova konstrukce pro různá experimentální uspořádání.
Zpracování práškových dat. Pozice difrakcí a jejich intenzity. Zpřesnění mřížkových parametrů. Tvarové funkce. Velikost částic a mikroskopická napětí. Indexování práškových dat. Řešení a zpřesnění krystalové struktury z práškových dat.
Zpracování monokrystalových dat.
Elektronová difrakce. Zobrazení struktury a defektů.
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Zachariáš, Ph.D. (15.04.2008)
Light and its diffraction on periodic planar patterns. Diffraction of electrons, neutrons and X-rays from 3D periodic structures. Fourier transforms.
Diffraction from powders and single crystals. Ewald construction for various experimental setups.
Processing of powder data. Peak position and intensities. Unit cell dimensions refinement. Peak shape functions. Extraction of strain and size parameters. Pattern indexing. Crystal structure solution and refinement from powder data.
Processing of single crystal data. Structure solution and refinement.
Electron diffraction. Structure and defect imaging.
