PředmětyPředměty(verze: 945)
Předmět, akademický rok 2023/2024
   Přihlásit přes CAS
Scattering and Microscopy Methods - MC260P127A
Anglický název: Scattering and Microscopy Methods
Zajišťuje: Katedra fyzikální a makromol. chemie (31-260)
Fakulta: Přírodovědecká fakulta
Platnost: od 2023
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Způsob provedení zkoušky: letní s.:
Rozsah, examinace: letní s.:1/1, Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: nevyučován
Jazyk výuky: angličtina
Je zajišťováno předmětem: MC260P127
Poznámka: povolen pro zápis po webu
Garant: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D.
Vyučující: prof. RNDr. Pavel Matějíček, Ph.D.
Michal Mazur, Ph.D.
prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D.
Výsledky anket   Termíny zkoušek   Rozvrh   
Anotace - angličtina
Poslední úprava: RNDr. Kateřina Ušelová, Ph.D. (08.02.2022)
Introduction to microscopic and scattering methods. The course combines lectures comprising both theoretical
principles of the methods and their instrumentation with practical courses.
Literatura - angličtina
Poslední úprava: RNDr. Kateřina Ušelová, Ph.D. (08.02.2022)

Egerton, R.F. Physical Principles of Electron Microscopy, Springer Verlag 2007

Meyer, E., Hug, H.J., Bennewitz, R. Scanning Probe Microscopy, Spinger Verlag 2004

Zemb, T., Lindner, P. (Eds.) Neutrons, X-rays and Light. Scattering Methods Applied to Soft Condensed Matter, North Holland 2002

Požadavky ke zkoušce - angličtina
Poslední úprava: RNDr. Kateřina Ušelová, Ph.D. (08.02.2022)

Oral exam

Sylabus - angličtina
Poslední úprava: RNDr. Kateřina Ušelová, Ph.D. (08.02.2022)

1. Electron microscopy

Basic principles of electron microscopy imaging, magnification, point resolution, contrast, chromatic and spherical aberration. Transmission and scanning electron microscopy, detection in SEM/STEM methods, interaction of electrons with the sample, EDS and EELS techniques. Sample preparation, cryogenic transmission electron microscopy

2. Scanning probe microscopy

Basic principles of SPM imaging, atomic force microscopy in contact, semicontact and noncontact mode, scanning tunelling microscopy

3. Scattering methods

Introduction to scattering theory, scattering vector, scattering length and scattering cross-section, form factor and structure factor. Analysis of scattering curves. Dynamic light scattering, intensity autocorrelation function, translational and rotational diffusion coefficient from DLS. Ligh, X-ray and neutron scattering measurements - radiation sources, detection and calibration.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK