|
|
|
||
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (14.05.2019)
|
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Helena Štěpánková, CSc. (14.06.2019)
Předmět je zakončen ústní zkouškou. Podmínkou pro připuštění ke zkoušce je zápočet. K zápočtu je nutná účast na praktické části výuky a vypracování požadovaných referátů ze zadaných úloh. Referát se odevzdává jeden za skupinu (ve skupině 1-3 studenti). |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Helena Štěpánková, CSc. (14.06.2019)
Anders Lund, Masaru Shiotani, Shigetaka Shimada, Principles and applications of ESR spectroscopy, Springer 2011 V. Kuperman, Magnetic Resonance Imagining, Academic Press, Illinois (2000) Bernhard Blumich, Essential NMR, Springer 2005 J.N. Mundy, S.J. Rothman, M.J. Fluss, L.C. Smedskjaer, Methods of Experimental Physics, Vol. 21 Solid State: Nuclear Methods, Academic Press, Orlando (1983) Hiroyuki Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, John Wiley & Sons, 2007 J. M. Hollas: Modern spectroscopy, J. Wiley, 2004 E.de Hoffmann, V. Stroobant: Mass Spectrometry. Principles and Applications, Wiley-Interscience, 2007 Dynamic Light Scattering: With Applications to Chemistry, Biology, and Physics (Dover Books on Physics)by by Bruce J. Berne Marion Birkholz: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley 2006. |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (06.10.2017)
Zkouška je ústní se zadáním tří otázek z probírané tématiky a možností přípravy na místě. Dále pak jsou možné doplňující krátké otázky. Zkouší zpravidla více vyučujících. Ke zkoušce je vyžadován zápočet. |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (22.09.2014)
Růst krystalů Příprava tenkých vrstev. Měření tloušťky tenkých vrstev, drsnosti a povrchové energie. Elipsometrie. Struktura povrchů a tenkých vrstev. Napětí a přednostní orientace. Studium napětí a textur v tenkých vrstvách, měření reflektivity Diagnostika plazmové polymerace (hmotnostní spektroskopie, optická emisní spektroskopie) Ramanova a IČ spektroskopie Elektronová paramagnetická (spinová) rezonance EPR (ESR), spektroskopie v kondenzovaných látkách. Zobrazování pomocí jaderných metod MR Imaging Studium nanočástic pomocí DLS (dynamický rozptyl světla)
|