  Thesis title |
Year of announcement |
Year of defence |
Thesis type | Thesis discipline | Supervisor |
Author |
Announced |
Assigned | Department | Faculty | |
 |
X-ray scattering from microdefects in silicon | 2010/2011 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 30.09.2009 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Dynamical diffraction of x-rays on layered systems | 2006/2007 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 03.10.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
X-ray diffraction from nanocrystalline thin layers | 2008/2009 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 02.10.2008 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
High-resolution x-ray diffraction from epitaxial layers of GaMnAs | 2005/2006 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Calculation of the structure factor of the GaMnAs alloy | 2004/2005 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2004 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
x-ray diffraction on a single-crystalline epitaxial layer | 2007/2008 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 05.09.2007 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Study of the structure of metallic polycrystalline thin layers by x-ray diffraction and reflection | 2005/2006 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Calculation of the structure factor of a GaMnAs alloy | 2007/2008 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 05.09.2007 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer | 2007/2008 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 05.09.2007 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Dynamická rtg difrakce na vrstevnatých systémech | 2008/2009 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 02.10.2008 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Structural properties of topological insulators | 2013/2014 | dissertation | 4F13 | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 23.03.2012 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Grazing-incidence diffraction on polycrystals | 2005/2006 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Measurement of diffuse scattering of x-rays by a two-dimensional detector | 2005/2006 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Calclation of the structure factor of the GaMnAs alloy | 2008/2009 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 02.10.2008 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
x-ray diffraction on a single-crystalline epitaxial layer | 2006/2007 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 11.05.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer | 2005/2006 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer | 2006/2007 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 11.05.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Study of diffusion of magnetic ions in semiconductors by x-ray diffraction and x-ray spectroscopy | 2012/2013 | dissertation | 4F13 | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 23.03.2012 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Calculation of the deformation field in a semiconductor quantum dot | 2012/2013 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 30.09.2009 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
High-resolution x-ray diffraction of short-periodic SiGe/Ge superlattices | 2010/2011 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 18.02.2011 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Study of defects in GaN epitaxial layers by x-ray diffraction | 2015/2016 | dissertation | 4F13 | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 07.03.2013 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Low temperature x-ray diffraction | 2017/2018 | project | F | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 16.10.2015 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
x-ray diffraction on a single-crystalline epitaxial layer | 2005/2006 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
X-ray diffraction from a single-crystalline epitaxial layer | 2008/2009 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 02.10.2008 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
X-ray scattering from semiconductor nanocrystals in amorphous matrix | 2012/2013 | dissertation | 4F13 | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 23.03.2011 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Low-temperature x-ray diffraction | 2018/2019 | Bachelor's thesis | F, FAF, FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 09.05.2016 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer | 2010/2011 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 30.09.2009 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer | 2008/2009 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 02.10.2008 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Study of the structure of ferromagnetic (Ga,Fe)N layers by x-ray scattering | 2006/2007 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 06.10.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Measurement of diffuse scattering of x-rays by a two-dimensional detector | 2006/2007 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 11.05.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Calculation of the structure factor of the GaMnAs alloy | 2006/2007 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 03.10.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Measurement of diffuse scattering of x-rays by a two-dimensional detector | 2007/2008 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 05.09.2007 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
X-ray scattering from microdefects in silicon | 2006/2007 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 06.10.2006 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
X-ray diffraction from semipolar GaN epitaxial layers | 2012/2013 | Bachelor's thesis | FOF | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 23.04.2012 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF | ||
|
Dynamical diffraction of x-rays on layered systems | 2005/2006 | diploma thesis | FKSM | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. | 01.10.2005 | Ne | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) | MFF |
Results 1-35 of 35 1