Studium vlivu drsnosti povrchu zkoumaného vzorku na tvar spektra při elastickém rozptylu energetických iontů
| Název práce v češtině: | Studium vlivu drsnosti povrchu zkoumaného vzorku na tvar spektra při elastickém rozptylu energetických iontů |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Influence of sample surface morphology on spectrum of elastically scattered energetic ions |
| Akademický rok vypsání: | 2008/2009 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Ústav částicové a jaderné fyziky (32-UCJF) |
| Vedoucí / školitel: | doc. RNDr. Anna Macková, Ph.D. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Seznámit se s principem metody Rutherfordovského zpětného rozptylu iontů (RBS) a s experimentálním zařízením v laboratoři jaderných analytických metod, ÚJF AV ČR [1].
2. Seznámit se s programem SIMNRA 6.03 a prostudovat teoretický vliv statistického rozdělení drsnosti povrchu na tvar RBS spektra. 3. Změřit připravené vzorky s danou morfologií připravené depozicí nano-částic definovaných velikostí popř. připravené iontovou litografií metodou RBS. 4. Simulace spekter s definovanou drsností s použitím SIMNRA 6.03 a srovnání s experimentem. |
| Seznam odborné literatury |
| [1] http://omega.ujf.cas.cz/vdg/index.html
[2] Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis, Eds.: J. R. Tesmer, M. Nastasi, Material Research Society, Pitsburg, Pensylvania 1995 [3] SIMNRA 6.03: http://www.rzg.mpg.de/~mam/Download.html [4] H. Metzner, M. Gossla, Th. Hahn, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 124 (1997) 567-574 [5] R. Behrisch, S. Grigull, U. Kreissig, R. Groetzschel, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 136-I 38 (1998) 628-637. |
| Předběžná náplň práce |
| Rutherfordovský zpětný rozptyl (RBS) energetických iontů je hojně využívaná analytická metoda [2], která umožňuje stanovit hloubkové koncentrační profily prvků. Pro studium se používají vysokoenergetické ionty (energie řádově MeV), ovšem morfologie povrchu měřeného vzorku má významný vliv na tvar spektra zpětně odražených iontů. Cílem práce bude měření RBS spekter vzorků s definovanou morfologií povrchu a dále simulace spekter zpětně odražených iontů s použitím softwaru SIMNRA 6.03 [3] zahrnující vliv měnící se tloušťky vrstvy ve formě statistického rozdělení gama funkce a modelování vlivu drsnosti vyjádřené pomocí jiných funkcí statistického rozdělení viz také [4, 5]. Veškeré potřebné experimentální zařízení, softwarové vybavení i odborná literatura jsou k dispozici studentům v ÚJF AV ČR. |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| Rutherford back-scattering spectrometry (RBS) of energetic ions is very often used analytical method [2], which enables us to determine elemental depth profiles. The energetic ions (several MeV) are used, but the surface morphology of the investigated sample plays important role and influences the quality and further interpretation of the measured spectra. The main goal of this work will the RBS measurement of samples with the defined morphology and the simulation of spectra using SIMNRA 6.03 code [3] including the layer thickness changes described by the statistical distribution Gamma function or using other statistical distributions. The main aim is to get the best agreement between measured RBS and simulated spectra see also [4,5]. |