Ellipsometrická měření indukovaných změn fyzikálních vlastností v materiálech
| Název práce v češtině: | Ellipsometrická měření indukovaných změn fyzikálních vlastností v materiálech |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Ellipsometric studies of induced changes in material properties |
| Akademický rok vypsání: | 2014/2015 |
| Typ práce: | projekt |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Řešitel: | |
| Konzultanti: | RNDr. Roman Antoš, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| Cílem tohoto projektu je seznámení se s metodou spektroskopické elipsometrie a jednoduchý úvod do problematiky optických vlastností materiálů. Dále úvod do indukované změny fyzikálních vlastností materiálů a nanostruktur pomocí aplikovaného napětí či změny teploty.
Student získá původní experimentální data na vybraných vzorcích a s pomocí komerčního programu dodaného k elipsometru se pokusí o jejich analýzu. |
| Seznam odborné literatury |
| R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. K dispozici u vedoucího projektu. |
| Předběžná náplň práce |
| Spektroskopická elipsometrie je neinvazivní metodou, hojně používanou pro studium optických vlastností materiálů. Tato metoda využívá změny polarizačního stavu při odrazu na rozhraní dvou různých prostředí. To umožňuje získání spektrální závislosti dvou elipsometrických proměnných psí a delta. Následná analýza experimentálních dat vyžaduje pokročilé fyzikální modely implementované v počítačových programech. Tímto způsobem lze získat informaci o spektrální závislosti indexu lomu daného materiálu, jeho tloušťce, drsnosti povrchu, atd. V současné době se spektroskopická elipsometrie uplatňuje zejména při výzkumu nových materiálů, které do dnešní doby nebyly kompletně charakterizovány. Mezi tyto materiály patří i Heuslerovy slitiny či nové magnetické oxidy. Pomocí spektroskopické elipsometrie se dají následně studovat jevy indukované změny fyzikálních vlastností materiálů a nanostruktur.
|