Magnetooptická měření nanometrových vrstev železa
| Název práce v češtině: | Magnetooptická měření nanometrových vrstev železa |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Magneto-spectroscopy of nanometer thick iron layers |
| Akademický rok vypsání: | 2014/2015 |
| Typ práce: | projekt |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Řešitel: | |
| Konzultanti: | RNDr. Lukáš Beran, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| Náplní tohoto projektu je systematické studium magnetooptických vlastností ultratenkých vrstev železa deponovaných na GaAs substrátu. Student získá hlubší znalosti o základních typech magnetooptických jevů (lineárních a kvadratických v magnetizaci) a jejich různých konfiguracích. Tyto znalosti budou poté využity k návrhu experimentálního uspořádání pro měření spektrální závislosti jak Kerrova lineárního magnetického jevu, tak i kvadratických jevů. Poté student naměří experimentální data na vybraných vzorcích. Student získá teoretické znalosti v oblasti šíření světla v anizotropních multivrstvách. S pomocí jednoduchých teoretických modelů poté student zanalyzuje naměřená experimentální data. |
| Seznam odborné literatury |
| R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. |
| Předběžná náplň práce |
| Současný stav poznání v oboru spinové elektroniky klade čím dál tím vyšší nároky na technologii přípravy tenkých magnetických vrstev. Vrstvy o tloušťkách pouhých několika nanometrů jsou vyžadovány pro správnou funkčnost spintronických zařízení. Fyzikální vlastnosti materiálů ve formě ultratenkých vrstev však vykazují značné odlišnosti od jejich objemové formy. Navíc se zde mohou projevit negativní vlivy způsobené nerovností rozhraní těchto vrstev.
Magnetooptická spektroskopie je velmi citlivou metodou vhodnou k sondování magnetického uspořádání nanostruktur. Měření Kerrova magnetooptického jevu v závislosti na energii dopadajícího světla či na velikosti vnějšího magnetického pole může poskytnout důležitou informaci o elektronové struktuře i magnetických anizotropiích ve zkoumané látce. Ultratenké vrstvy železa jsou vhodné jako modelový materiálový systém na němž se je možné sledovat změny magnetického uspořádání v závislosti na tloušťce vrstvy či orientaci substrátu. Poznatky o magnetooptických jevech kvadratických v magnetizaci je možné využít k analýze fyzikálních vlastností mnohem komplikovanějších systémů jako jsou např. antiferomagnetické sloučeniny. |