Zpracování dat naměřených na ultra-jemnozrnných hořčíkových materiálech metodami difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) a automatické indexace krystalografické orientace v transmisním elektronovém mikroskopu (ACOM-TEM)

• Název práce v češtině: Zpracování dat naměřených na ultra-jemnozrnných hořčíkových materiálech metodami difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) a automatické indexace krystalografické orientace v transmisním elektronovém mikroskopu (ACOM-TEM)
• Název v anglickém jazyce: Processing of data measured on ultra-fine grained magnesium materials using electron backscatter diffraction (EBSD) and automated crystallographic orientation indexation in a transmission electron microscope (ACOM-TEM)
• Klíčová slova: Difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD), automatická indexace krystalografické orientace v transmisním elektronovém mikroskopu (ACOM-TEM), ultra-jemnozrnné materiály
• Klíčová slova anglicky: Electron backscatter diffraction (EBSD), automated crystallographic orientation indexation in a transmission electron microscope (ACOM-TEM), ultra-fine grained (UFG) materials
• Akademický rok vypsání: 2013/2014
• Typ práce: projekt
• Jazyk práce: čeština
• Ústav: Katedra fyziky materiálů (32-KFM)
• Vedoucí / školitel: RNDr. Jitka Stráská, Ph.D.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 11.11.2013
• Datum zadání: 11.11.2013
• Datum potvrzení stud. oddělením: 16.12.2013

Zásady pro vypracování

1) Seznámení se s metodami elektronové mikroskopie (skenovací a transmisní), s difrakcí zpětně odražených elektronů (EBSD) a automatickou indexací krystalografické orientace v transmisním el. mikroskopu (ACOM-TEM)
2) Studium odborné literatury k pochopení problematiky ultra-jemnozrnných hořčíkových materiálů
3) Vyhodnocení naměřených dat a zpracování do tzv. orientačních map

Seznam odborné literatury

Y. Chen, J. Hjelen, H.J. Roven; Application of EBSD technique to ultrafine grained and nanostructured materials processed by severe plastic deformation: Sample preparation, parameters optimization and analysis, Transa of Nonfer Met Soc of China, 22, 2012, 1801-1809.
A. Kobler, A. Kashiwar, H. Hahn, C. Kübel; Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals, Ultramicroscopy, vol. 128, 2013, 68–81.
J. Vrátná, Physical properties of ultrafine-grained polycrystals of magnesium based alloys, diplomová práce, 2010.

Předběžná náplň práce

Difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) je velmi důležitá metoda pro pozorování mikrostruktury jemnozrnných a ultra-jemnozrnných materiálů. Studované materiály byly připraveny metodami intenzivní plastické deformace (ECAP a HPT). Typická zrna jsou velmi malá, což komplikuje pozorování pomocí EBSD. Extrémně jemnozrnné materiály můžou být efektivněji studovány i novou moderní metodou automatické indexace krystalografické orientace v transmisním el. mikroskopu (ACOM-TEM). Student se seznámí s těmito moderními difrakčními metodami a s pomocí vedoucí projektu bude zpracovávat naměřená data – vytvoří orientační mapy a vyhodnotí distribuci velikostí zrn, zastoupení jednotlivých typů hranic zrn, dvojčat apod.

Předběžná náplň práce v anglickém jazyce

Electron backscatter diffraction is a very powerful technique for analysing microstructure of fine grained and ultra-fine grained (UFG) materials. Studied materials were prepared by ECAP and HPT severe plastic deformation techniques. Average grain size is extremely small, which complicates the EBSD observations. Extremely ultra-fine grained materials could be more effectively studied using new modern method of automated crystallographic orientation indexation in a transmission electron microscope (ACOM-TEM). During this project, student will get acquainted with these modern diffraction methods and cooperate with the supervisor on measured data processing – he/she will create orientation imaging maps and calculate grain size distribution, fraction of different types of grain boundaries, twins etc.