Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami

• Název práce v češtině: Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami
• Název v anglickém jazyce: Characterization of thin layers for photonics by optical methods
• Akademický rok vypsání: 2007/2008
• Typ práce: projekt
• Jazyk práce: čeština
• Ústav: Fyzikální ústav UK (32-FUUK)
• Vedoucí / školitel: prof. Ing. Jan Franc, DrSc.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 14.11.2007
• Datum zadání: 14.11.2007
• Datum proběhlé obhajoby: 10.06.2008

Zásady pro vypracování

Seznámit se se základy metodiky charakterizace povrchu vrstev optickou interferometrií a fotoluminiscencí. Proměřit
hrubost povrchu vrstev na optickém interferometru Zygo
Na vybraných vzorcích provést měření optických vlastností. Měření zpracovat a posudit kvalitu jednotlivých vrstev.

Seznam odborné literatury

Luminiscenční spektroskopie polovodičů
I.Pelant, J.Valenta, Academia 2006

Předběžná náplň práce

Fotonika je jedním z rychle se rozvíjejících odvětví optiky a optoelektroniky zahrnujících emisi, transmisi, detekci, amplifikaci, modulaci
a přepínání světla. Jedním ze studovaných materiálů pro přípravu vlnovodů a dalších pasivních optických prvků je polovodič CdTe. Cílem práce je charakterizace tenkých vrstev CdTe (100nm-1000nm) připravených na různých typech substrátů (Si, safír, sklo) několika optickými metodami a stanovit, která podložka je pro přípravu kvalitních vrstev nejvhodnější. Základní metodou ke studiu bude nízkoteplotní fotoluminiscence. Tato bezkontaktní metoda umožňuje stanovit kvalitu materiálu analýzou její spektrální závislosti,
z níž lze určit přítomnost jednotlivých typů poruch. K měření bude použita stávající aparatura sestávající z laditelného Ti-safírového laseru a kryostatu pro měření při teplotě kapalného Helis (4.2K).