Structure and Properties of Thin Silicon Films for Solar Cells Studied by Combined Atomic Force Microscopy
| Název práce v češtině: | Structure and Properties of Thin Silicon Films for Solar Cells Studied by Combined Atomic Force Microscopy |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Structure and Properties of Thin Silicon Films for Solar Cells Studied by Combined Atomic Force Microscopy |
| Akademický rok vypsání: | 1999/2000 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Antonín Fejfar, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 01.10.1999 |
| Datum zadání: | 01.10.1999 |
| Datum a čas obhajoby: | 09.01.2007 10:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 09.01.2007 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 09.01.2007 |
| Oponenti: | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. |
| prof. RNDr. Vladimír Čech, Ph.D. | |