Mikroskopie atomových sil povrchů makromolekulárních látek

• Název práce v češtině: Mikroskopie atomových sil povrchů makromolekulárních látek
• Název v anglickém jazyce: Atomic force microscopy of the polymer surfaces
• Akademický rok vypsání: 2006/2007
• Typ práce: bakalářská práce
• Jazyk práce: čeština
• Ústav: Katedra makromolekulární fyziky (32-KMF)
• Vedoucí / školitel: prof. RNDr. Hynek Biederman, DrSc.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 29.01.2007
• Datum zadání: 29.01.2007
• Datum a čas obhajoby: 25.06.2007 00:00
• Datum odevzdání elektronické podoby: 25.06.2007
• Datum proběhlé obhajoby: 25.06.2007
• Oponenti: doc. RNDr. Pavel Hlídek, CSc.

Zásady pro vypracování

1)Seznámit se s principem metody mikroskopie atomárních sil (AFM) a naučit se zobrazovat
povrchy pomocí AFM přístrojem Quesant 350.
2) Podílet se na přípravě modifikačních kompozitních vrstev kov/plazmový polymer.
3) Na těchto vzorcích provést měření povrchu v kontaktním a bezkontaktním modu.
4) Porovnat kvalitu výsledků měření získaných v obou měřících režimech.

Seznam odborné literatury

1. L. Machala, M. Vůjtek, R. Kubínek, M. Mašláň: Mikroskopie skenující sondou, Univerzita Palackého Olomouc 2003 (PDF).
2. Mikroskopie atomárních sil (AFM). Praktická měření (http://atmilab.upol.cz/texty)l
3. Manual k přístroji AFM Quesant 350.
4. Vybrané kapitoly z Metody analýzy povrchů, eds. L. Frank, J. Král, Academia 2002.

Předběžná náplň práce

Atomic force microscopy (AFM) je metoda využívající atomových sil při studiu povrchových vlastností látek. Tyto vlastnosti lze význačným způsobem měnit díky modifikaci technologie jejich přípravy.
Cílem práce je studium polymerních povrchů a povrchů plasmových polymerů pomocí metody AFM. Tyto povrchy budou různým způsobem modifikovány před kontaktem s vodou.