Systém pro snímání a vyhodnocování dat rentgenovské fotoelektronové difrakce XPD
| Název práce v češtině: | Systém pro snímání a vyhodnocování dat rentgenovské fotoelektronové difrakce XPD |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | |
| Akademický rok vypsání: | 2000/2001 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 16.11.2000 |
| Datum zadání: | 16.11.2000 |
| Datum a čas obhajoby: | 15.05.2002 00:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 15.05.2002 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 15.05.2002 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 15.05.2002 |