Teplotní změny v tenkých vrstvách nanočástic
| Název práce v češtině: | Teplotní změny v tenkých vrstvách nanočástic |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Temperature changes in thin films of nanoparticles |
| Klíčová slova: | nanočástice, teplota, elipsometrie |
| Klíčová slova anglicky: | nanoparticles, temperature, ellipsometry |
| Akademický rok vypsání: | 2016/2017 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Katedra makromolekulární fyziky (32-KMF) |
| Vedoucí / školitel: | Mgr. Jaroslav Kousal, Ph.D. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 21.09.2016 |
| Datum zadání: | 21.09.2016 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 15.12.2016 |
| Datum a čas obhajoby: | 21.06.2017 00:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 19.05.2017 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 19.05.2017 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 21.06.2017 |
| Oponenti: | doc. Mgr. Jan Hanuš, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1) Seznámit se technikou spektroskopické elipsometrie.
2) Seznámit se s problematikou tvorby a (zejména optických) vlastností nanočástic. 2) Na vybraných vrstvách nanočástic a/nebo nanokompozitů změřit in-situ vývoj jejich optických vlastností s teplotou. 3) Interpretovat získané výsledky do podoby bakalářské práce. |
| Seznam odborné literatury |
| N.G.Khlebtsov, L.A.Dykman, Optical properties and biomedical applications of plasmonic nanoparticles, J.Quant.Spectr.&Rad.Transfer 111(2010)1–35
Spectroscopic ellipsometry : principles and applications, H. Fujiwara., Wiley, Chichester, 2007 + další literatura dle doporučení vedoucího |
| Předběžná náplň práce |
| 'Povrchové' a 'objemové' vlastnosti materiálů se mohou velmi lišit. Se zmenšováním objemu materiálu hrají povrchové vlastnosti čím dál větší roli. U částic nanometrových rozměrů jsou proto i jejich základní vlastnosti zřetelně odlišné od 'objemových' vzorků.
Velmi zřetelně se to projevuje např. v průběhu různých jevů s teplotou (oxidace, tání, elektrická vodivost...). Tyto změny lze velmi dobře pozorovat opticky, metoda spektroskopické elipsometrie je jedna ze zvláště vhodných. Vzorky tenkých vrstev nanočástic připravené v plynovém agregačním zdroji budou analyzovány in-situ elipsometrií během regulovaného ohřevu. To bude představovat hlavní část experimentální práce. Budou využity i snímky z elektronového mikroskopu a AFM, u elektricky vodivých částic bude možno měřit i jejich ex-situ vodivost. Práce má zejména experimentální charakter. |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| 'Surface' and 'bulk' properties of materials can sharply differ. With decreasing of the volume of the material, the surface properties play more and more important role. For nanometer-sized particles even a basic properties are markedly different from the 'bulk' samples.
It is clearly demonstrated e.g. in the dependecies of various effect on the temperature (oxidation, melting, electrical conductivity...). These changes influence the optical properties of such particles, what can be observed precisely by spectroscopic ellipsometry. Samples of thin films of nanoparticles prepared in gas aggregation source will be analyzed using in-situ ellipsometry during controlled heating. This will be the main part of the work. As as supplement, images from electron microscopy and AFM will be used, in case of conductive particles measurement of their ex-situ conductivity will be possible. The work is mainly experimental. |