Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 390)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Ve čtvrtek dne 4. září 2025 v době od 20:00 do 22:00 dojde k odstávce webového prostředí a databáze systému WhoIs. Odstávka systému WhoIs se dotkne též systému IS Studium, zejména nebude možné odevzdávání závěrečných prací. Zápisy do předmětů by neměly být jakkoliv ovlivněny. Omlouváme se za komplikace a děkujeme všem, kterých se odstávka jakkoliv dotkne, za pochopení.
Elektromigrace defektů v polovodičích (CdZn)Te.
Název práce v češtině: Elektromigrace defektů v polovodičích (CdZn)Te.
Název v anglickém jazyce: Electromigration of defects in (CdZn)Te single crystals.
Klíčová slova: CdTe, elektromigrace, potenciální sonda, drift
Klíčová slova anglicky: CdTe, electromigration, potential probe, drift
Akademický rok vypsání: 2010/2011
Typ práce: bakalářská práce
Jazyk práce: čeština
Ústav: Fyzikální ústav UK (32-FUUK)
Vedoucí / školitel: prof. Ing. Eduard Belas, CSc.
Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
Datum přihlášení: 12.11.2010
Datum zadání: 22.02.2011
Datum a čas obhajoby: 13.09.2011 00:00
Datum odevzdání elektronické podoby:03.08.2011
Datum odevzdání tištěné podoby:05.08.2011
Datum proběhlé obhajoby: 13.09.2011
Oponenti: prof. RNDr. Roman Grill, CSc.
 
 
 
Zásady pro vypracování
1. Seznámit se se základními principy difuze v polovodičích.
2. Seznámit se s aparaturou pro měření elektromigrace.
3. Provést testovací měření při různých teplotách.
4. Vyhodnotit výsledky.
Seznam odborné literatury
1. Bulk Crystal Growth of Electronic, Optical and Optoelectronic materials, J.Wiley&Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, England 2005, edit. P.Capper. ISBN 0-470-85142-2
2. Radiation Detection and Measurement, G.F.Knoll, J.Wiley&Sons,Inc., ISBN 978-0-471-07338-3
3. Fyzika a Technika Polovodičů, SNTL 1990, edit.H. Frank, ISBN 80-03-00401-2
4. Diffusion in Solids, P.G.Shewmon, McGraw-Hill Series in Mater.Sci.Engin.,
5. Odborné články týkající se dané problematiky
Předběžná náplň práce
Práce je zaměřena na výzkum elektromigrace v polovodičích. Tato metoda se používá pro čištění polovodičových vzorků a pro přípravu vysoko odporového materiálu.
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
This work is focused on the research of electromigration in semiconductors. This method can be used for purification of semi-conducting samples and for preparation of semi-insulating material
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK