![]() | Ve čtvrtek dne 4. září 2025 v době od 20:00 do 22:00 dojde k odstávce webového prostředí a databáze systému WhoIs. Odstávka systému WhoIs se dotkne též systému IS Studium, zejména nebude možné odevzdávání závěrečných prací. Zápisy do předmětů by neměly být jakkoliv ovlivněny. Omlouváme se za komplikace a děkujeme všem, kterých se odstávka jakkoliv dotkne, za pochopení. |
Elektromigrace defektů v polovodičích (CdZn)Te.
Název práce v češtině: | Elektromigrace defektů v polovodičích (CdZn)Te. |
---|---|
Název v anglickém jazyce: | Electromigration of defects in (CdZn)Te single crystals. |
Klíčová slova: | CdTe, elektromigrace, potenciální sonda, drift |
Klíčová slova anglicky: | CdTe, electromigration, potential probe, drift |
Akademický rok vypsání: | 2010/2011 |
Typ práce: | bakalářská práce |
Jazyk práce: | čeština |
Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
Vedoucí / školitel: | prof. Ing. Eduard Belas, CSc. |
Řešitel: | skrytý![]() |
Datum přihlášení: | 12.11.2010 |
Datum zadání: | 22.02.2011 |
Datum a čas obhajoby: | 13.09.2011 00:00 |
Datum odevzdání elektronické podoby: | 03.08.2011 |
Datum odevzdání tištěné podoby: | 05.08.2011 |
Datum proběhlé obhajoby: | 13.09.2011 |
Oponenti: | prof. RNDr. Roman Grill, CSc. |
Zásady pro vypracování |
1. Seznámit se se základními principy difuze v polovodičích.
2. Seznámit se s aparaturou pro měření elektromigrace. 3. Provést testovací měření při různých teplotách. 4. Vyhodnotit výsledky. |
Seznam odborné literatury |
1. Bulk Crystal Growth of Electronic, Optical and Optoelectronic materials, J.Wiley&Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, England 2005, edit. P.Capper. ISBN 0-470-85142-2
2. Radiation Detection and Measurement, G.F.Knoll, J.Wiley&Sons,Inc., ISBN 978-0-471-07338-3 3. Fyzika a Technika Polovodičů, SNTL 1990, edit.H. Frank, ISBN 80-03-00401-2 4. Diffusion in Solids, P.G.Shewmon, McGraw-Hill Series in Mater.Sci.Engin., 5. Odborné články týkající se dané problematiky |
Předběžná náplň práce |
Práce je zaměřena na výzkum elektromigrace v polovodičích. Tato metoda se používá pro čištění polovodičových vzorků a pro přípravu vysoko odporového materiálu. |
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
This work is focused on the research of electromigration in semiconductors. This method can be used for purification of semi-conducting samples and for preparation of semi-insulating material |