Rtg rozptyl na polovodičových nanočásticích v amorfní matrici
| Název práce v češtině: | |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | X-ray scattering from semiconductor nanocrystals in amorphous matrix |
| Klíčová slova: | maloúhlý rtg rozptyl;rtg difrakce;nanočástice |
| Klíčová slova anglicky: | small-angle x-ray scattering;x-ray diffraction;nanoparticles |
| Akademický rok vypsání: | 2012/2013 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| Systémy polovodičových nanočástic v amorfní matrici se v posledních letech intenzivně zkoumají pro jejich možné použití ve fotonice a fotovoltaice. Základním problémem technologie těchto systémů je dosažení malého rozptylu ve velikostech nanočástic připravených molekulární epitaxí nebo magnetronovým naprašováním. Ukazuje se, že takřka monodisperzní systém nanočástic lze získat depozicí multiverstev s využitím procesů samouspořádání při depozici. Cílem práce je studium velikostí a strukturní dokonalosti nanočástic metodou maloúhlého rtg rozptylu, rtg difrakce a rtg spektroskopie a výzkum mechanismu samouspořádání částic při depozici.
Práce má převážně experimentální povahu, měření budou realizována převážně na synchrotronech ESRF a ELETTRA. |
| Seznam odborné literatury |
| Pietsch U., Holý V. and Baumbach T., High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 2004.
M. Buljan, U. V. Desnica, M. Ivanda, N. Radić, P. Dubček, G. Dražić, K. Salamon, S. Bernstorff, and V. Holý, Formation of three-dimensional quantum-dot superlattices in amorphous systems: Experiments and Monte Carlo simulations, Phys. Rev. B 79, 035310 (2009). |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| Systems of semiconductor nanocrystals in amorphous matrix are intensively studied because of their prospective applications in photovoltaics and photonics. The basic problem of the technology of the systems grown by molecular beam epitaxy or magnetron sputtering is the achievement of a small dispersion in the nanocrystal sizes. It has been found recently that a small size dispersion can be obtained by a deposition of multilayers and using self-ordering processes during deposition. The goal of the thesis is to study the sizes and structural quality of nanocrystals by using small-angle x-ray scattering, x-ray diffraction and x-ray absorption spectroscopy methods.
The thesis is mainly experimental, the measurements will be carried out mostly at synchrotron sources ESRF and ELETTRA |