Characterization of highly porous Pd-modified SnO2 sputtered thin films for H2 detection
| Název práce v češtině: | Charakterizace vysoce porézních Pd-modifikovaných SnO2 naprášovaných tenkých vrstev pro detekci H2 |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Characterization of highly porous Pd-modified SnO2 sputtered thin films for H2 detection |
| Klíčová slova: | magnetronové naprašování, GLAD, XRD, XPS, SRPES, SEM, TEM, plynový konduktometrický senzor |
| Klíčová slova anglicky: | magnetron sputtering, GLAD, XRD, XPS, SRPES, SEM, TEM, gas sensitivity (response) measurements |
| Akademický rok vypsání: | 2009/2010 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Kateřina Veltruská, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 29.09.2009 |
| Datum zadání: | 29.09.2009 |
| Datum a čas obhajoby: | 25.06.2015 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 18.05.2015 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 18.05.2015 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 25.06.2015 |
| Oponenti: | Ing. Petr Jiříček, CSc. |
| RNDr. Břetislav Šmíd, Ph.D. | |