Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami
Název práce v češtině: | Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami |
---|---|
Název v anglickém jazyce: | Characterization of thin layers for photonics by optical methods |
Akademický rok vypsání: | 2007/2008 |
Typ práce: | projekt |
Jazyk práce: | čeština |
Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
Vedoucí / školitel: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
Datum přihlášení: | 14.11.2007 |
Datum zadání: | 14.11.2007 |
Datum proběhlé obhajoby: | 10.06.2008 |
Zásady pro vypracování |
Seznámit se se základy metodiky charakterizace povrchu vrstev optickou interferometrií a fotoluminiscencí. Proměřit
hrubost povrchu vrstev na optickém interferometru Zygo Na vybraných vzorcích provést měření optických vlastností. Měření zpracovat a posudit kvalitu jednotlivých vrstev. |
Seznam odborné literatury |
Luminiscenční spektroskopie polovodičů
I.Pelant, J.Valenta, Academia 2006 |
Předběžná náplň práce |
Fotonika je jedním z rychle se rozvíjejících odvětví optiky a optoelektroniky zahrnujících emisi, transmisi, detekci, amplifikaci, modulaci
a přepínání světla. Jedním ze studovaných materiálů pro přípravu vlnovodů a dalších pasivních optických prvků je polovodič CdTe. Cílem práce je charakterizace tenkých vrstev CdTe (100nm-1000nm) připravených na různých typech substrátů (Si, safír, sklo) několika optickými metodami a stanovit, která podložka je pro přípravu kvalitních vrstev nejvhodnější. Základní metodou ke studiu bude nízkoteplotní fotoluminiscence. Tato bezkontaktní metoda umožňuje stanovit kvalitu materiálu analýzou její spektrální závislosti, z níž lze určit přítomnost jednotlivých typů poruch. K měření bude použita stávající aparatura sestávající z laditelného Ti-safírového laseru a kryostatu pro měření při teplotě kapalného Helis (4.2K). |