Optické vlastnosti tenkých vrstev pro fotoniku
| Název práce v češtině: | Optické vlastnosti tenkých vrstev pro fotoniku |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Optical properties of thin layers for applications in photonics |
| Akademický rok vypsání: | 2007/2008 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 14.11.2007 |
| Datum zadání: | 19.11.2007 |
| Datum a čas obhajoby: | 16.09.2008 00:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 16.09.2008 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 16.09.2008 |
| Oponenti: | doc. RNDr. Pavel Hlídek, CSc. |
| Konzultanti: | doc. RNDr. Pavel Hlídek, CSc. |
| doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc. | |
| Zásady pro vypracování |
| Seznámit se se základy metodiky charakterizace povrchu vrstev optickou interferometrií a fotoluminiscencí. Proměřit
hrubost povrchu vrstev na optickém interferometru Zygo a pomocí mikroskopu atomových sil (AFM - atomic force microscope). Na vybraných vzorcích provést měření fotoluminiscence. Měření zpracovat a posudit kvalitu jednotlivých vrstev. |
| Seznam odborné literatury |
| D.K.Schroder, Semiconductor Material and Device Characterization, John Wiley and Sons, 1998
I.Pelant, J.Valenta, Luminiscenční spektroskopie polovodičů, Academia 2006 |
| Předběžná náplň práce |
| Fotonika je jedním z rychle se rozvíjejících odvětví optiky a optoelektroniky zahrnujících emisi, transmisi, detekci, amplifikaci, modulaci
a přepínání světla. Jedním ze studovaných materiálů pro přípravu vlnovodů a dalších pasivních optických prvků je polovodič CdTe. Cílem práce je charakterizace tenkých vrstev CdTe (100nm-1000nm) připravených na různých typech substrátů (Si, safír, sklo) několika optickými metodami a stanovit, která podložka je pro přípravu kvalitních vrstev nejvhodnější. Základní metodou ke studiu bude nízkoteplotní fotoluminiscence. Tato bezkontaktní metoda umožňuje stanovit kvalitu materiálu analýzou její spektrální závislosti, z níž lze určit přítomnost jednotlivých typů poruch. K měření bude použita stávající aparatura sestávající z laditelného Ti-safírového laseru a kryostatu pro měření při teplotě kapalného Helia (4.2K). |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| Photonics is one of the quickly developing fields of optics and optoelectronics including emission, transmission, detection, amplification,
modulation and switching of light. One of the investigated materials for fabrication of waveguides and other passive optical elements is semiconductor CdTe. The goal of the work is to characterize thin CdTe layers (100-1000nm) fabricated on various types of substrates 9Si, sapphire, glass) by several optical methods and to determine, which type of substrates is most suitable for preparation of high quality layers. |