Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami

• Název práce v češtině: Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
• Název v anglickém jazyce: Nondestructive depth profiling of very thin metal layers by means of electron spectroscopic methods
• Akademický rok vypsání: 2005/2006
• Typ práce: diplomová práce
• Jazyk práce: čeština
• Ústav: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
• Vedoucí / školitel: doc. RNDr. Jiří Pavluch, CSc.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 03.03.2006
• Datum zadání: 03.03.2006
• Datum a čas obhajoby: 13.09.2006 00:00
• Datum odevzdání elektronické podoby: 13.09.2006
• Datum proběhlé obhajoby: 13.09.2006
• Oponenti: RNDr. Vladimír Starý, CSc.

Zásady pro vypracování

1) Rešerše literatury
2) Studium vhodně vybraných vzorků metodami ARXPS, EPES a AES
3) Modelování a zpracování výsledků měření

Seznam odborné literatury

1) G. Ertl, J. Kűppers: Low energy electrons and surface chemistry, VCH Verlagsgesellschaft mbH, Weinheim 1985.
2) L. Eckertová (ed.) a kol.: Metody analýzy povrchů - Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990.
3) Časopisecká literatura dle dohody.

Předběžná náplň práce

Velmi tenké kovové vrstvy deponované na substrát z jiného kovu se intenzívně studují pro své adsorpční a katalytické vlastnosti se silnými praktickými aplikacemi. Jde zejména o dispergované vzácné kovy a heterogenní katalýzu jedovatých plynů vznikajících při provozu spalovacích motorů, popřípadě o detekci takových plynů pomocí jejich vlivu na snadno měřitelné vlastnosti těchto vrstev. K nalezení optimálních parametrů jejich přípravy se zkoumá jejich struktura a chemické složení metodami elektronové difrakce a elektronové, popřípadě iontové spektroskopie. Neméně důležité je i zjištění hloubkového profilu takových vrstev, který v průběhu přípravy podléhá drastickým změnám. Klasické metody zde selhávají, zatímco elektronově spektroskopické mohou za určitých okolností být schopny takový profil poskytnout nedestruktivně s využitím vhodného modelu elektronového rozptylu v povrchových vrstvách. Experimentální část práce se bude uskutečňovat na nedávno postaveném elektronovém spektrometru s brzdným polem (RFA) v laboratoři fyziky povrchů na KEVF MFF UK.