Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe.
| Název práce v češtině: | Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe. |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Study of thin films by means of x-ray reflectivity |
| Akademický rok vypsání: | 2005/2006 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D. |
| Řešitel: |
| Předběžná náplň práce |
| Polovodičový průmysl již mnoho let používá technologii tenkých vrstev k výrobě nejrůznějších elektronických prvků - od jednoduchých P-N přechodů v diodách až po složité multivrstvy a heterostruktury v polovodičových laserech. Kvalita těchto struktur je určující pro jejich elektrické, resp. transportní, vlastnosti. Jednou z metod, jakými můžeme experimentálně studovat strukturu tenké vrstvy je rentgenová reflektometrie.
Práce je zaměřena na experiment i na teorii. Požadují se základní znalosti optiky v rozsahu základních přednášek. Během řešení bude zájemce provádět měření na rtg. difraktometru a naměřená data porovná s teorií. Výhodou je alespoň základní znalost programování (v kterémkoli programovacím jazyce). Práce je vhodná i pro uchazeče o magisterské studium. |