Rtg difrakce s vysokým rozlišením na epitaxních vrstvách GaMnAs
| Název práce v češtině: | Rtg difrakce s vysokým rozlišením na epitaxních vrstvách GaMnAs |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | High-resolution x-ray diffraction from epitaxial layers of GaMnAs |
| Akademický rok vypsání: | 2005/2006 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. |
| Řešitel: |
| Seznam odborné literatury |
| A. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction, Oxford Univ. Press, Oxford 2001.
V. Holý, U. Pietsch and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 1999. |
| Předběžná náplň práce |
| Polovodičové epitaxní vrstvy GaMnAs jsou v posledních několika letech intenzivně sledovány pro svoje unikátní magnetické vlastnosti. Zvýšení Curieho teploty tohoto materiálu nad asi 100K vyžaduje zvětšit koncentraci atomů Mn nad 8%, což přináší řadu strukturních problémů, zejména zvětšení koncentrace atomů Mn v nepříznivých intersticiálních polohách.
Cílem práce je měření rtg difrakčních křivek epitaxních vrstev GaMnAs připravených metodou molekulární epitaxe na FzÚ AV ČR v Praze a na univerzitě v Lundu (Švédsko). Difrakční křivky budou simulovány pomocí dynamické teorie difrakce s cílem stanovit mřížkový parametr vrstvy a odhadnout koncentrace jednotlivých typů bodových defektů. Měření budou prováděna na difraktometru PANalytical na KFES MFF UK v Praze; měření anomální difrakce (u absorpční hrany MnK) na synchrotronu ESRF v Grenoblu. Práce je převážně experimentální povahy, vyžaduje však zběhlost v numerickém řešení jednoduchých fyzikálních problémů a v programování. |