Multiscale Semicontinuous Thin Film Image Analysis
| Název práce v češtině: | Multiscale Semicontinuous Thin Film Image Analysis |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | |
| Akademický rok vypsání: | 1998/1999 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Rudolf Hrach, DrSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 01.10.1998 |
| Datum zadání: | 01.10.1998 |
| Datum a čas obhajoby: | 14.09.2004 09:30 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 14.09.2004 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 14.09.2004 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 14.09.2004 |
| Oponenti: | prof. RNDr. Stanislav Novák, CSc. |
| doc. RNDr. Jan Voves, CSc. | |