Optoelektronické a strukturní vlastnosti tenkých vrstev křemíku
| Název práce v češtině: | Optoelektronické a strukturní vlastnosti tenkých vrstev křemíku |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Optoelectronic and structural properties of thin silicon films |
| Akademický rok vypsání: | 2003/2004 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i. (32-FZUAV) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Antonín Fejfar, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 25.11.2003 |
| Datum zadání: | 25.11.2003 |
| Datum a čas obhajoby: | 04.05.2009 11:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 04.05.2009 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 04.05.2009 |
| Oponenti: | doc. RNDr. Miroslava Trchová, CSc., DSc. |
| Prof. RNDr. Eduard Schmidt, CSc. | |