Kvantitativní analýza povrchů metodou fotoelektronové spektroskopie XPS
| Název práce v češtině: | Kvantitativní analýza povrchů metodou fotoelektronové spektroskopie XPS |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | |
| Akademický rok vypsání: | 1999/2000 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Kateřina Veltruská, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 11.02.2000 |
| Datum zadání: | 11.02.2000 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 30.05.2001 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 30.05.2001 |