Studium magnetických struktur pomocí Kerrovy mikroskopie v různých konfiguracích
| Název práce v češtině: | Studium magnetických struktur pomocí Kerrovy mikroskopie v různých konfiguracích |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Investigation of magnetic structures using Kerr microscopy in various configurations |
| Klíčová slova: | Kerrovská mikroskopie, magnetické domény, MOKE |
| Klíčová slova anglicky: | Kerr microscopy, magnetic domains, MOKE |
| Akademický rok vypsání: | 2019/2020 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Jakub Zázvorka, Ph.D. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 30.10.2019 |
| Datum zadání: | 31.10.2019 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 28.07.2020 |
| Datum a čas obhajoby: | 14.07.2020 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 04.06.2020 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 04.06.2020 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 14.07.2020 |
| Oponenti: | RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D. |
| Konzultanti: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Prostudovat odbornou literaturu k danému tématu.
2. Osvojit si základní teorii popisu polarizovaného světla a magnetooptických jevů 3. Seznámit se s principy Kerrova jevu a jeho implementace do mikroskopických měření. 4. Sestavit magnetooptický Kerrův mikroskop s metodou detekce pomocí rotujícího analyzátoru. 5. Analyzovat prostorové rozlišení a šum metody a zjistit optimální nastavení. 6. Naměřit Kerrův jev s prostorovým rozlišením na vybraných tenkých vrstvách magnetických materiálů. 7. Interpretovat naměřená data. |
| Seznam odborné literatury |
| M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. A. Hubert, R. Schafer, Magnetic Domains, Springer, 1998 J. McCord, Progress in magnetic domain observation by advanced magneto-optical microscopy, J. Phys. D: Appl. Phys 48, 333001 (2015). I. V. Soldatov, R. Schafer, Selective sensitivity in Kerr microscopy, Rev. Sci. Instrum. 88, 073701 (2017). I. V. Soldatov, R. Schafer, Advances in quantitative Kerr microscopy, Phys. Rev. B 95, 014426 (2017). Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. K dispozici u vedoucího práce. |