Formation, Functionalization and Characterization of 2D Materials on Crystalline Supports
| Název práce v češtině: | Růst, funkcionalizace a charakterizace 2D materiálů na krystalických substrátech |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Formation, Functionalization and Characterization of 2D Materials on Crystalline Supports |
| Klíčová slova anglicky: | 2D materials, graphene, hematite, SPM, XPS, Catalysis |
| Akademický rok vypsání: | 2016/2017 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i. (32-FZUAV) |
| Vedoucí / školitel: | Mgr. Martin Švec, Ph.D. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 13.10.2016 |
| Datum zadání: | 13.10.2016 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 13.10.2016 |
| Datum a čas obhajoby: | 19.11.2020 10:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 09.10.2020 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 09.10.2020 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 19.11.2020 |
| Oponenti: | César Gonzáles Pascual |
| doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D. | |
| Konzultanti: | doc. Ing. Pavel Jelínek, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| Cílem práce je provádět studium atomární a elektronové struktury vybraných molekul na povrchu pevných látek. Budou studovány vybrané chemické procesy a možnosti manipulace jednotlivých molekul do organizovaných celků. |
| Seznam odborné literatury |
| A. Zangwill, Physics at Surfaces, Cambridge Press, 1988.
F. J. Giessibl, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003). C. J. Chen Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford University Press, 2008. |
| Předběžná náplň práce |
| Současný rozvoj rastrovacích mikroskopů pracujících v ultravysokém vákuu umožňuje provádět měření atomárních sil a tunelovacích proudů na jednotlivých atomech či molekulách na povrchu pevné látky. Možnost měření atomárních sil a tunelovacího proudu zároveň otvírá zcela nové možnosti pro charakterizaci povrchů a nanostruktur v nanoskopickém měřítku. Cílem této práce je osvojení si práce s ultravakuovými rastrovacími tunelovacími mikroskopy a senzory atomárních sil různých typů, které jsou k dispozici v rámci našich laboratoří. Cílem práce je provádět studium atomární a elektronové struktury vybraných molekul na povrchu pevných látek. Budou studovány vybrané chemické procesy a možnosti manipulace jednotlivých molekul do organizovaných celků.
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=316 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| Current development of Ultra-High Vacuum Scanning Probe Microscopy (UHV-SPM) allows simultaneous measurements of atomic forces and tunneling current over single atoms or molecule on surfaces. The possibility of simultaneous acquisition of atomic forces and the tunneling current opens new possibilities in characterization of surfaces and nanostructures at the nanoscale. The objective of this work is to adopt skills to operate various types of UHV-SPM equipped with sensors and to perform advanced studies of atomic and electronic structures of selected molecules on surfaces. Selected chemical reactions and possibilities of single-molecule manipulation will be examined.
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=316 |