Rtg difrakce je standardní metoda studia struktury krystalických pevných látek, umožňující určit mřížkové parametry, polohy atomů v elementární buňce a strukturní defekty ve zkoumaném materiálu. V rtg laboratoři Katedry fyziky kondenzovaných látek máme k disposici rtg difraktometr s He-kryostatem s uzavřeným okruhem, který umožňuje měřit difrakci až do teplot kolem 2K; tato měření jsou velmi důležitá pro studium strukturních transformací za nízkých teplot zejména v magnetických a multiferoických materiálech. V současné době probíhá přestavba a testování nových komponent zařízení (vnitřní He náplň, miniaturní piezoelektrický rotátor vzorku), která umožní provádět nízkoteplotní měření se zlepšenou stabilitou teploty (He náplň umožní lepší výměnu tepla) a i na monokrystalických vzorcích (rotátor umožní natáčet vzorek v azimutálním směru). Cílem projektu je (i) realizace He systému z nakoupených komponent, zahrnující rozvod He s ventily a měrkami a připojení vývěvy, (ii) provedení testovacích měření rtg difrakce za nízkých teplot, která ověří dosaženou teplotu a její stabilitu, (iii) účast na měření nízkoteplotní rtg difrakce multiferoických tenkých vrstev.
Práce je převážně experimentální povahy a je vhodná pro studenta (studentku) bakalářského studia s dobrou znalostí základů experimentální fyziky.
Seznam odborné literatury
Podle pokynů vedoucího
Předběžná náplň práce
Cílem projektu je vylepšení stávajícího nízkoteplotního rtg difraktometru v rtg laboratoři Katedry fyziky kondenzovaných látek, která umožní měřit rtg difrakci za teplot do 2K na epitaxních tenkých vrstvách a monokrystalech. Práce je převážně experimentální povahy a zahrnuje sestavení částí difraktometru a provedení testovacího měření.
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
The goal of the project is the upgade of a low-temperature x-ray diffraxctometer in the x-ray lab of Department of condensed matter physics. This upgrade will make it possible to measure low-temperature x-ray diffraction on epitaxial thin layers and single crystals. The project is mainly experimental and comprises an assembly of several diffractometer parts and realization of various diffraction tests.
