Parametry analyzátoru energií elektronů Omicron EA 125
| Název práce v češtině: | Parametry analyzátoru energií elektronů Omicron EA 125 |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Characteristics of Omicron EA 125 Electron Energy Analyser |
| Akademický rok vypsání: | 2013/2014 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | doc. RNDr. Václav Nehasil, Dr. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| 1) Seznámit se s principem funkce hemisférického analyzátoru energií elektronů.
2) Seznámit se s principy kvantitativní analýzy povrchu prováděné metodou XPS. 3) Provést kontrolní měření na vybraných kovech (Au, Ag, Cu) v různých modech analyzátoru, při různých průletových energiích Epas atd. 4) Vyhodnotit získaná spektra, stanovit transmisní funkci analyzátoru, závislosti intenzity signálu a rozlišení na Epas atd. 5) Získané výsledky porovnat s měřeními provedenými v roce 2001, zhodnotit „opotřebení“ analyzátoru. 6) Získané výsledky sepsat ve formě bakalářské práce. |
| Seznam odborné literatury |
| 1) D. Briggs and M. P. Seah, Practical Surface Analysis, John Willey and Sons, Chichester, England, 1990.
2) EA 125 Energy Analyser – manuál firmy Omicron. 3) Tomáš Skála, Diplomová práce, KEVF MFF UK, 2001. 4) Články v odborných časopisech podle dohody studenta s vedoucím práce. |
| Předběžná náplň práce |
| Znalost složení povrchů pevných látek (do hloubky několika nm) je důležitý parametr, který se uplatňuje při mnoha technologických procesech. Jmenujme například interakci plynů s povrchem a s ní související heterogenní katalýzu ? proces významný v praxi i intenzivně studovaný v laboratořích základního i aplikovaného výzkumu či problematiku přechodu elektronu z jedné pevné látky do druhé, která se týká funkce většiny elektronických součástek a která souvisí s chemickým složením povrchu.
Kvantitativní analýzu povrchů pevných látek je možno provádět nejrůznějšími metodami, které jsou založeny na určité odezvě, kterou pevná látka reaguje na působení konkrétního primárního činidla. V naší laboratoři používáme metodu Rentgenové fotoelektronové spektroskopie ? X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). V ní sledujeme spektrum fotoelektronů, které jsou emitovány pomocí měkkého rentgenového záření dopadajícího na vzorek. Vyhodnocujeme polohu, tvar a intenzitu získaných fotoelektronových píků. Z nich můžeme provést kvalitativní analýzu vzorku (chemické složení), kvantitativní analýzu (koncentrace jednotlivých složek) a dokonce i stanovit chemický stav jednotlivých prvků ve vzorku obsažených. Získané fotoelektronové spektrum je ovšem ovlivněno ?přístrojovou funkcí? analyzátoru, hlavně transmisní funkcí (závislost intenzity elektronů procházejících analyzátorem na jejich kinetické energii) a dalšími efekty. Pro správnou kvantitativní analýzu vzorku je třeba tyto parametry znát a do interpretace změřených spekter zahrnout. V roce 2001 provedl kompletní analýzy námi používaného analyzátoru energií elektronů Omicron EA 125 Tomáš Skála ve své diplomové práci. Vypsaná bakalářská práce má za úkol část jeho měření zreprodukovat a zjistit, nakolik jsou dosud platné jeho závěry, zejména co se týká transmisní funkce. Případné odchylky mohly nastat díky několika opravám analyzátoru, stěhování aparatury, opotřebování provozem atd. Práce umožní seznámit se detailně s funkcí elektronově optického sytému -analyzátoru energií. Pro její vypracování je potřeba provést víceméně standardní měření, ovšem s dostatečnou přesností a pečlivostí. Případnému zájemci o studium povrchů metodami elektronové spektroskopie pomůže získat praktické zkušenosti potřebné pro kvantitativní analýzu povrchu. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=156 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=156 |