Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Pokročilé rentgenografické rozptylové metody vhodné pro výzkum morfologie, struktury, a reálné struktury
nanomateriálů. Debyeova zobecněná rozptylová funkce, maloúhlový rozptyl rtg. záření (SAXS), maloúhlový rozptyl
rtg. záření s malým úhlem dopadu primárního záření (GISAXS), totální rozptyl – párová distribuční funkce (PDF).
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Advanced X-ray scattering methods suitable for investigation of the morphology, structure, and real structure of
nanomaterials. Generalized Debye scattering function, small-angle X-ray scattering (SAXS), grazing-incidence
small-angle X-ray scattering (GISAXS), total scattering - pair distribution function (PDF).
Podmínky zakončení předmětu -
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání. Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Oral and written examination. Written part consists of solution of a simple problem non-requiring long calculation. Oral part follows and it is usually about 45 min.
Literatura -
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
B. E. Warren, X-ray diffraction, Dover, New York, 1990.
J. Als-Nielsen and D. McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley, 2011.
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer, 2004.
T. Egami and S.J.L. Billinge, Underneath the Bragg Peaks Structural Analysis of Complex Materials, Pergamon, 2003.
A. Guinier and G. Fournet, Small-Angle Scattering of X-rays, Wiley, Ney York - London, 1955.
O. Glatter and O. Kratky (eds.), Small-Angle X-ray Scattering, Academic Press, Lodon - New York, 1982.
L.A. Feigin and D.I. Svergun, Structure Analysis by Small-Angle X-ray Scattering, Springer, New York, 1987.
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
B. E. Warren, X-ray diffraction, Dover, New York, 1990.
J. Als-Nielsen and D. McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley, 2011.
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer, 2004.
T. Egami and S.J.L. Billinge, Underneath the Bragg Peaks Structural Analysis of Complex Materials, Pergamon, 2003.
A. Guinier and G. Fournet, Small-Angle Scattering of X-rays, Wiley, Ney York - London, 1955.
O. Glatter and O. Kratky (eds.), Small-Angle X-ray Scattering, Academic Press, Lodon - New York, 1982.
L.A. Feigin and D.I. Svergun, Structure Analysis by Small-Angle X-ray Scattering, Springer, New York, 1987.
Sylabus -
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Morfologie, struktura a reálná struktura nanočástic. Simulace a generování nanočásticových klastrů. Klastry magických velikostí.
Zobecněná Debyeova rozptylová funkce, teorie, odvození. Výpočet intenzity rozptýleného rentgenového záření pro různé typy a velikosti nanočástic pomocí DSE.
Maloúhlový rozptyl rtg. záření (SAXS), maloúhlový rozptyl rtg. záření s malým úhlem dopadu primárního záření (GISAXS), teorie a aplikace. Měření SAXS a GISAXS, zpracování vyhodnocení měřených dat.
Totální rozptyl - párová distribuční funkce. Teoretický popis. Praktické aspekty měření PDF. Laboratorní versus synchrotronové zdroje.
Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (09.06.2022)
Morphology, structure and real structure of nanoparticles. Simulation and generation of nanoparticle clusters. Magic-sizes clusters.
Generalized Debye scattering function, theory, derivation. Calculation of scattered X-ray intensity for different types and sizes of nanoparticles using DSE.
Small-angle X-ray scattering (SAXS), drazing incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS), theory and applications. SAXS and GISAXS measurements, processing and evaluation of measured data.
Total scattering - pair distribution function. Theoretical description. Practical aspects of PDF measurement. Laboratory versus synchrotron sources. Application of PDF to various types of nanoparticles.
