Řešení experimentálních problémů zaměření FPIP z oblasti vakuové techniky, elektroniky, elektronové mikroskopie, metod povrchové analýzy, fyziky plazmatu a přípravy tenkých vrstev.
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)
Solution of experimental tasks which are met in topic of study-specialization Surface physics and physics of ionized media. Vacuum technique, electronics, electron microscopy, surface analysis, plasma physics and thin film technique.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (30.04.2020)
Referáty se vypracovávají z 5 vylosovaných úloh a je třeba je odevzdat nejpozději do dvou týdnů po naměření úlohy. Pozdní odevzdání protokolu může ovlivnit výslednou známku. Za absolvování se uděluje klasifikovaný zápočet. Podmínkou pro jeho získání je absolvování všech úloh a odevzdání pěti referátů, obojí s hodnocením alespoň dobře, tj. výsledná známka je průměrem patnácti (5 protokolů + 10 praktik) získaných známek.
Pro šk. rok 2019/2020 platí, že do výsledné známky se počítají známky za všechny úlohy změřené před vyhlášením nouzového stavu, ostatní se ruší. Podmínkou pro získání zápočtu je vypracování 5 referátů (ze všech naměřených úloh a do počtu 5 zpracovaných dodaných měření) s hodnocením alespoň dobře, tj. výsledná známka je průměrem známek z 5 protokolů a známek z naměřených úloh.
Literatura
Poslední úprava: T_KEVF (28.04.2004)
podle zadaných úloh.
Sylabus -
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)
Řešení experimentálních problémů zaměření FPIP z oblasti vakuové techniky, elektroniky, elektronové mikroskopie, metod povrchové analýzy, fyziky plazmatu a přípravy tenkých vrstev.
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)
Solution of experimental tasks which are met in topic of study-specialization Surface physics and physics of ionized media. Vacuum technique, electronics, electron microscopy, surface analysis, plasma physics and thin film technique.
