Pokročilé metody zpracování difrakčních dat - MG431P70

• Anglický název: Advanced methods in processing of diffraction data
• Zajišťuje: Oddělení geochemie a mineralogie (zrušeno) (31-431)
• Fakulta: Přírodovědecká fakulta
• Platnost: od 2008 do 2012
• Semestr: letní
• E-Kredity: 4
• Způsob provedení zkoušky: letní s.:
• Rozsah, examinace: letní s.:1/2, Z+Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Garant: RNDr. Roman Skála, Ph.D.
• Vyučující: RNDr. Roman Skála, Ph.D.

Anotace

čeština

Kurz se věnuje popisu metod používaných k získání a zpracování difrakčních dat v mineralogii. Ukáže možnosti i omezení
vybraných metod. Rovněž se zabývá vlivem reálné struktury na difrakční obraz.

Poslední úprava: Skála Roman, RNDr., Ph.D. (23.02.2021)

angličtina

Course describes diffraction methods and the procedures for their processing as used in mineralogy. Possibilities and
limitation of certain experimental techniques are explained. Also, real structure influence on the diffraction patterns is
addressed.

Poslední úprava: Skála Roman, RNDr., Ph.D. (23.02.2021)

Literatura

čeština

Giacovazzo C., editor (2000) Fundamentals of Crystallography, 2nd edition, IUCr Oxford University Press.

Smrčok L. (1994) Difrakcia na polykryštalických látkach. R&D Print, Bratislava.

Snyder R., Fiala J., and Bunge H.J., editors (2000) Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.

Young R.A., editor (1995) The Rietveld Method. Oxford University Press.

Studentům budou dány k dispozici texty přednášek formou PDF souborů.

Poslední úprava: Zachariáš Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (26.10.2011)

angličtina

Giacovazzo C., editor (2000) Fundamentals of Crystallography, 2nd edition, IUCr Oxford University Press.

Smrčok L. (1994) Difrakcia na polykryštalických látkach. R&D Print, Bratislava.

Snyder R., Fiala J., and Bunge H.J., editors (2000) Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.

Young R.A., editor (1995) The Rietveld Method. Oxford University Press.

Poslední úprava: Zachariáš Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (26.10.2011)

Požadavky ke zkoušce

Zápočet:

Aktivní účast na výuce, protokoly z cvičení.

Zkouška:

Znalosti v rozsahu látky přednášek a cvičení a výběru ze studijní literatury. Zkouška probíhá písemnou formou.

Poslední úprava: Skála Roman, RNDr., Ph.D. (01.06.2012)

Sylabus

čeština

Světlo a jeho difrakce na dvojrozměrných vzorcích. Difrakce elektronů, neutronů a rentgenového záření na 3D periodických strukturách. Fourierovy transformace.

Difrakce od polykrystalů a monokrystalů. Ewaldova konstrukce pro různá experimentální uspořádání.

Zpracování práškových dat. Pozice difrakcí a jejich intenzity. Zpřesnění mřížkových parametrů. Tvarové funkce. Velikost částic a mikroskopická napětí. Indexování práškových dat. Řešení a zpřesnění krystalové struktury z práškových dat.

Zpracování monokrystalových dat.

Elektronová difrakce. Zobrazení struktury a defektů.

Poslední úprava: Skála Roman, RNDr., Ph.D. (01.06.2012)

angličtina

Light and its diffraction on periodic planar patterns. Diffraction of electrons, neutrons and X-rays from 3D periodic structures. Fourier transforms.

Diffraction from powders and single crystals. Ewald construction for various experimental setups.

Processing of powder data. Peak position and intensities. Unit cell dimensions refinement. Peak shape functions. Extraction of strain and size parameters. Pattern indexing. Crystal structure solution and refinement from powder data.

Processing of single crystal data. Structure solution and refinement.

Electron diffraction. Structure and defect imaging.

Poslední úprava: Zachariáš Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (15.04.2008)