Předmět je zakončen ústní zkouškou.

Požadavky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.

The subject is termianted by the oral exam. The requirements for the exam correspond to the syllabus/handout which was presented at the lectures.

Václav Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha 1992.

I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Reálná struktura látek - v mesoskopické a mikroskopické oblasti. Charakteristika pojmů.

Distribuce orientací zrn a krystalitů. Textura. Popis. 3D charakterizace textury - ODF (orientační distribuční funkce). Měření pólových obrazců a určení ODF. Zjednodušená charakterizace přednostní orientace pomocí tzv. omega a fi skenů. Texturní indexy.

Difrakce zpětně odražených elektronů EBSD - princip metody, vyhodnoceni a zpracovani dat EBSD, strukturni informace z dat EBSD.

Klasifikace napětí - napětí prvního, druhého a třetího druhu. Popis napětí prvního druhu - tzv. zbytkového napětí. Metody měření zbytkového napětí v objemových materiálech a tenkých vrstvách.

Klasifikace defektů z mříže z hlediska jejich vlivu na difrakční obraz. Analýza profilů rtg difrakčních linií.

Studium nanokrystalických materiálů - velikost a distribuce velikostí krystalitů. Studium mikroskopických napětí a dislokací, vrstevné chyby.

TEM - princip a konstrukce el. mikroskopu, kinematická teorie difrakce elektronů na ideálním a porušeném krystalu, základní typy difraktogramů, kinematická teorie kontrastu, zobrazení základních typů poruch krystalové mřižky v TEM, fázovy kontrast, základní principy HRTEM.

Studium tenkých vrstev, určování jejich tloušťky a drsnosti (reflektivita).

Studium amorfních a nanokrystalických materiálů. Párová distribuční funkce, její měření a výpočet.

Study of real structure of the matter by X-ray, neutron and electron diffraction, transmission and scanning electron microscopy.

Kinematic theory of diffraction by real crystals and classification of lattice defects.

Elements of electron diffraction. Classification of stresses and their determination. Textures.

Study of crystallite size, shape and distribution.

Grain boundaries - small-angle, high-angle, twinned. Fracture surfaces. Grain misorientation.

Lattice defects - dislocation - density, Burgers vector, type, stacking faults, antiphase boundaries.

Point defects and precipitates.