|
|
|
||
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2017)
|
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (04.06.2020)
Získání zápočtu je podmínkou pro konání zkoušky. Udělení zápočtu je podmíněno průběžnou účastí na výuce, aktivitou při cvičeních a vypracováním zjednodušeného protokolu z měření. Povaha kontroly studia předmětu vylučuje opakování zápočtu. |
|
||
Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2017)
J. M. Walls (ed.): Methods of Surface Analysis, Cambridge University Press, Cambridge, 1990. D. Briggs, J. T. Grant (ed.): Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, The Cromwell Press, Trowbridge, 2003. G. Ertl, J. Küppers: Low Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH Verlagsgesellschaft mbH, Weinheim, 1985. Stefan Hüfner: Photoelectron Spectroscopy: Principles and Applications, Springer Science & Business Media, 2003 L. Eckertová (ed.): Metody analýzy povrchu - elektronová spektroskopie, Akademia Praha, 1990. |
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Viktor Johánek, Ph.D. (13.10.2017)
Zkouška z tohoto předmětu je ústní. Požadavky zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce. |
|
||
Poslední úprava: T_KEVF (15.05.2017)
Přehled metod, experimentální systémy (elektronová optika, zdroje záření, analyzátory, detektory), vakuové podmínky (střední volná dráha, vliv povrch. adsorpce, ...), vzorky (typy, požadavky a metody přípravy), vliv dopadajícího záření na složení a strukturu povrchu a metody jejich eliminace 2. Transport elektronu pevnou látkou Elastické a neelastické interakce, interakční objem, útlumová vzdálenost, střední neelastická volná dráha, hloubka informace 3. Spektroskopie Augerových elektronů Historie, mechanismus, experimentální zařízení, kvalitativní analýza (energie a tvary Augerových píků), kvantitativní analýza (intenzita emise Augerových elektronů) 4. Spektroskopie charakteristických ztrát EELS - experimentální zařízení, ionizační a plazmonové ztráty, přechody uvnitř energetického pásu, rozšířená jemná struktura, ztráty indukované adsorbáty HREELS - experimentální zařízení, mechanismus elektronového rozptylu, experimentální výsledky 5. Fotoelektronové spektroskopie Historie a společné principy, fotoionizační proces a fotoelektrický jev XPS - experimentální zařízení, kvalitativní analýza, kvantitativní analýza, efekty konečného stavu, úhlově rozlišené XPS (ARXPS) UPS - experimentální zařízení, spektra čistých povrchů a adsorbátů, úhlově rozlišené UPS (ARUPS) Synchrotronové metody - SRPES, HAXPES, ARPES, RPES IPE (Internal Photoemission Spectroscopy) - princip, experimentální zařízení, aplikace 6. Přídavek (starší metody, nejnovější metody a moderní podoby klasických metod) Spektroskopie prahových potenciálů (appearance potential spectroscopy, APS), spektroskopie elasticky odražených elektronů (elastic peak electron spectroscopy, EPES), dvoufotonová fotoelektronová spektroskopie (2PPE), iontová neutralizační spectroskopie (ion neutralization spectroscopy, INS), autoemisní elektronová spektroskopie (field emission electron spectroscopy, FES), near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS) El. spektroskopie v mikroskopických metodách: EDX a WDX v SEM, TEM, STEM; LEEM (SPELEEM, IV char., energ. filtr); STS v STM Operando metody - NAP-XPS, NAP-PES
|